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Refinado por: assunto: X-Ray Diffraction remover assunto: Technology remover autor: Wilhelmsson, O remover
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Microstructure and electrical properties of Ti–Si–C–Ag nanocomposite thin films

Eklund, P ; Joelsson, T ; Ljungcrantz, H ; Wilhelmsson, O ; Czigány, Zs ; Högberg, H ; Hultman, L

Surface & Coatings Technology, 2007, Vol.201(14), pp.6465-6469 [Periódico revisado por pares]

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Comment on “Pulsed Laser Deposition and Properties of M n +1 AX x Phase Formulated Ti 3 SiC 2 Thin Films”

Eklund, P. ; Palmquist, J.-P. ; Wilhelmsson, O. ; Jansson, U. ; Emmerlich, J. ; Högberg, H. ; Hultman, L.

Tribology Letters, 2004, Vol.17(4), pp.977-978 [Periódico revisado por pares]

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