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Multiview Stereo via Volumetric Graph-Cuts and Occlusion Robust Photo-Consistency
Multiview Stereo via Volumetric Graph-Cuts and Occlusion Robust Photo-Consistency
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Multiview Stereo via Volumetric Graph-Cuts and Occlusion Robust Photo-Consistency

Vogiatzis, George ; Hernandez Esteban, Carlos ; Torr, Philip H.S. ; Cipolla, Roberto

IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence, 2007-12, Vol.29 (12), p.2241-2246 [Periódico revisado por pares]

Los Alamitos, CA: IEEE

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2
Multiview Photometric Stereo
Multiview Photometric Stereo
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Multiview Photometric Stereo

Hernandez, C. ; Vogiatzis, G. ; Cipolla, R.

IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence, 2008-03, Vol.30 (3), p.548-554 [Periódico revisado por pares]

Los Alamitos, CA: IEEE

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3
Overcoming Shadows in 3-Source Photometric Stereo
Overcoming Shadows in 3-Source Photometric Stereo
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Overcoming Shadows in 3-Source Photometric Stereo

Hernández, Carlos ; Vogiatzis, G ; Cipolla, R

IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence, 2011-02, Vol.33 (2), p.419-426 [Periódico revisado por pares]

Los Alamitos, CA: IEEE

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4
Video Normals from Colored Lights
Video Normals from Colored Lights
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Video Normals from Colored Lights

Brostow, G. J. ; Hernandez, C. ; Vogiatzis, G. ; Stenger, B. ; Cipolla, R.

IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence, 2011-10, Vol.33 (10), p.2104-2114 [Periódico revisado por pares]

Los Alamitos, CA: IEEE

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5
Probabilistic visibility for multi-view stereo
Probabilistic visibility for multi-view stereo
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Probabilistic visibility for multi-view stereo

Hernandez, C. ; Vogiatzis, G. ; Cipolla, R.

2007 IEEE Conference on Computer Vision and Pattern Recognition, 2007, p.1-8

IEEE

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6
Using Multiple Hypotheses to Improve Depth-Maps for Multi-View Stereo
Using Multiple Hypotheses to Improve Depth-Maps for Multi-View Stereo
Material Type:
Capítulo de Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Using Multiple Hypotheses to Improve Depth-Maps for Multi-View Stereo

Campbell, Neill D. F. ; Vogiatzis, George ; Hernández, Carlos ; Cipolla, Roberto Torr, Philip ; Zisserman, Andrew ; Forsyth, David

Computer Vision – ECCV 2008, p.766-779 [Periódico revisado por pares]

Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg

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7
Reconstructing relief surfaces
Reconstructing relief surfaces
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Reconstructing relief surfaces

Vogiatzis, George ; Torr, Philip H.S. ; Seitz, Steven M. ; Cipolla, Roberto

Image and vision computing, 2008-03, Vol.26 (3), p.397-404 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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8
Reconstruction in the Round Using Photometric Normals and Silhouettes
Reconstruction in the Round Using Photometric Normals and Silhouettes
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Reconstruction in the Round Using Photometric Normals and Silhouettes

Vogiatzis, G. ; Hernandez, C. ; Cipolla, R.

2006 IEEE Computer Society Conference on Computer Vision and Pattern Recognition (CVPR'06), 2006, Vol.2, p.1847-1854

IEEE

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9
Practical 3D Reconstruction Based on Photometric Stereo
Practical 3D Reconstruction Based on Photometric Stereo
Material Type:
Capítulo de Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Practical 3D Reconstruction Based on Photometric Stereo

Vogiatzis, George ; Hernández, Carlos Battiato, Sebastiano ; Farinella, Giovanni Maria ; Cipolla, Roberto

Computer Vision, p.313-345 [Periódico revisado por pares]

Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg

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10
Shadows in Three-Source Photometric Stereo
Shadows in Three-Source Photometric Stereo
Material Type:
Capítulo de Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Shadows in Three-Source Photometric Stereo

Hernández, Carlos ; Vogiatzis, George ; Cipolla, Roberto Torr, Philip ; Zisserman, Andrew ; Forsyth, David

Computer Vision – ECCV 2008, p.290-303 [Periódico revisado por pares]

Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg

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