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Regularized linear discriminant analysis based on generalized capped l2,q-norm
Regularized linear discriminant analysis based on generalized capped l2,q-norm
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Regularized linear discriminant analysis based on generalized capped l2,q-norm

Li, Chun-Na ; Ren, Pei-Wei ; Guo, Yan-Ru ; Ye, Ya-Fen ; Shao, Yuan-Hai

Annals of operations research, 2024-08, Vol.339 (3), p.1433-1459 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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Robust L1-norm two-dimensional linear discriminant analysis
Robust L1-norm two-dimensional linear discriminant analysis
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Robust L1-norm two-dimensional linear discriminant analysis

Li, Chun-Na ; Shao, Yuan-Hai ; Deng, Nai-Yang

Neural networks, 2015-05, Vol.65, p.92-104 [Periódico revisado por pares]

United States: Elsevier Ltd

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3
Robust and Sparse Linear Discriminant Analysis via an Alternating Direction Method of Multipliers
Robust and Sparse Linear Discriminant Analysis via an Alternating Direction Method of Multipliers
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Robust and Sparse Linear Discriminant Analysis via an Alternating Direction Method of Multipliers

Li, Chun-Na ; Shao, Yuan-Hai ; Yin, Wotao ; Liu, Ming-Zeng

IEEE transaction on neural networks and learning systems, 2020-03, Vol.31 (3), p.915-926

United States: IEEE

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L₂,₁-Norm Regularized Robust and Sparse Linear Discriminant Analysis via an Alternating Direction Method of Multipliers
L₂,₁-Norm Regularized Robust and Sparse Linear Discriminant Analysis via an Alternating Direction Method of Multipliers
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L₂,₁-Norm Regularized Robust and Sparse Linear Discriminant Analysis via an Alternating Direction Method of Multipliers

Li, Chun-Na ; Li, Yi ; Meng, Yan-Hui ; Ren, Pei-Wei ; Shao, Yuan-Hai

IEEE access, 2023, Vol.11, p.34250-34259 [Periódico revisado por pares]

Piscataway: IEEE

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5
Generalized two-dimensional linear discriminant analysis with regularization
Generalized two-dimensional linear discriminant analysis with regularization
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Generalized two-dimensional linear discriminant analysis with regularization

Li, Chun-Na ; Shao, Yuan-Hai ; Chen, Wei-Jie ; Wang, Zhen ; Deng, Nai-Yang

Neural networks, 2021-10, Vol.142, p.73-91 [Periódico revisado por pares]

United States: Elsevier Ltd

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6
Robust bilateral Lp-norm two-dimensional linear discriminant analysis
Robust bilateral Lp-norm two-dimensional linear discriminant analysis
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Robust bilateral Lp-norm two-dimensional linear discriminant analysis

Li, Chun-Na ; Shao, Yuan-Hai ; Wang, Zhen ; Deng, Nai-Yang

Information sciences, 2019-10, Vol.500, p.274-297 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Inc

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Recursive universum linear discriminant analysis
Recursive universum linear discriminant analysis
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Recursive universum linear discriminant analysis

Li, Chun-Na ; Liu, Jiakou ; Meng, Yanhui ; Shao, Yuan-Hai

Optimization letters, 2024-07, Vol.18 (6), p.1405-1419 [Periódico revisado por pares]

Berlin/Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg

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Robust Bhattacharyya bound linear discriminant analysis through an adaptive algorithm
Robust Bhattacharyya bound linear discriminant analysis through an adaptive algorithm
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Robust Bhattacharyya bound linear discriminant analysis through an adaptive algorithm

Li, Chun-Na ; Shao, Yuan-Hai ; Wang, Zhen ; Deng, Nai-Yang ; Yang, Zhi-Min

Knowledge-based systems, 2019-11, Vol.183, p.104858, Article 104858 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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Capped norm linear discriminant analysis and its applications
Capped norm linear discriminant analysis and its applications
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Capped norm linear discriminant analysis and its applications

Liu, Jiakou ; Xiong, Xiong ; Ren, Peiwei ; Li, Chun-Na ; Shao, Yuan-Hai

Applied intelligence (Dordrecht, Netherlands), 2023-08, Vol.53 (15), p.18488-18507 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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Two-dimensional Bhattacharyya bound linear discriminant analysis with its applications
Two-dimensional Bhattacharyya bound linear discriminant analysis with its applications
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Two-dimensional Bhattacharyya bound linear discriminant analysis with its applications

Guo, Yan-Ru ; Bai, Yan-Qin ; Li, Chun-Na ; Bai, Lan ; Shao, Yuan-Hai

Applied intelligence (Dordrecht, Netherlands), 2022-06, Vol.52 (8), p.8793-8809 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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