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Refinado por: idioma: Inglês remover tipo de recurso: Livros remover autor: Santos Filho, S remover
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1
Electrical and physical characterization of electroless nickel films on polysilicon gate electrodes
Electrical and physical characterization of electroless nickel films on polysilicon gate electrodes
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Electrical and physical characterization of electroless nickel films on polysilicon gate electrodes

Alan Rodrigo Navia Sebastião Gomes dos Santos Filho 1962-

Morimoto, N.I.; Ribas, P.R.; Verdonck, P.B., eds Microelectronics Technology and Devices SBMICRO 2002 Pennington : The Electrochemical Society, 2002

Pennington The Electrochemical Society 2002

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2
Polarization-difference imaging technique for material characterization algorithm and some applications
Polarization-difference imaging technique for material characterization algorithm and some applications
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Polarization-difference imaging technique for material characterization algorithm and some applications

Hugo Puertas de Araújo Sebastião Gomes dos Santos Filho 1962-

Morimoto, N.I.; Ribas, P.R.; Verdonck, P.B., eds Microelectronics Technology and Devices SBMICRO 2002 Pennington : The Electrochemical Society, 2002

Pennington The Electrochemical Society 2002

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3
Diluted HNO3/HF as a final pre-oxidation cleaning step for MOS devices
Diluted HNO3/HF as a final pre-oxidation cleaning step for MOS devices
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Diluted HNO3/HF as a final pre-oxidation cleaning step for MOS devices

Willian Aurélio Nogueira Leandro Zeidan Toquetti; Sebastião Gomes dos Santos Filho 1962-

Morimoto, N.I.; Ribas, P.R.; Verdonck, P.B., eds Microelectronics Technology and Devices SBMICRO 2002 Pennington : The Electrochemical Society, 2002

Pennington The Electrochemical Society 2002

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4
Formation and characterization of the Ni(Pt)Si and NiSi for MOS devices applications
Formation and characterization of the Ni(Pt)Si and NiSi for MOS devices applications
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Formation and characterization of the Ni(Pt)Si and NiSi for MOS devices applications

R.E. Santos Ioshiaki Doi; J. A Diniz; Jacobus Willibrordus Swart 1950-; Sebastião Gomes dos Santos Filho 1962-

Morimoto, N.I.; Ribas, R.P.; Verdonck, P.B., eds Microelectronics Technology and Devices SBMICRO 2002 Pennington : The Electrochemical Society, 2002

Pennington The Electrochemical Society 2002

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5
Formation of nickel monosilicide onto (100) silicon wafer surfaces
Formation of nickel monosilicide onto (100) silicon wafer surfaces
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Formation of nickel monosilicide onto (100) silicon wafer surfaces

Ronaldo Willian Reis Sebastião Gomes dos Santos Filho 1962-; Armando Antonio Maria Laganá 1952-; Ioshiaki Doi; Jacobus Willibrordus Swart 1950-

Morimoto, N.I.; Ribas, R.P.; Verdonck, P.B Microelectronics Technology and Devices SBMICRO 2002 Pennington : The Electrochemical Society, 2002

Pennington The Electrochemical Society 2002

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6
Formation of nickel silicides onto (100) silicon wafer surfaces using a thin platinum interlayer
Formation of nickel silicides onto (100) silicon wafer surfaces using a thin platinum interlayer
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Formation of nickel silicides onto (100) silicon wafer surfaces using a thin platinum interlayer

Ronaldo Willian Reis Sebastião Gomes dos Santos Filho 1962-; Ioshiaki Doi; Jacobus Willibrordus Swart 1950-

Martino J.A. ; Pavanello, M.A. ; Morimoto, N.I. eds Microelectronic Technology and Devices SBMicro 2003 Pennington : Electrochemical Society, 2003

Pennington Electrochemical Society 2003

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  3. Reis, R  (2)
  4. Santos, R  (1)
  5. Nogueira, W  (1)
  6. Toquetti, L  (1)
  7. Laganá, A  (1)
  8. Navia, A  (1)
  9. Diniz, J  (1)
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Neste Assunto:

  1. Microeletrônica

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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