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Refinado por: autor: McCluskey, E remover
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Multiple-fault analysis in combinational logic circuits
Multiple-fault analysis in combinational logic circuits
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Tese de Doutorado 		Adicionar ao Meu Espaço

Multiple-fault analysis in combinational logic circuits

Francisco José de Oliveira Dias Edward J McCluskey 1929-

1975

Localização: EPBC - Esc. Politécnica-Bib Central    (004.312 D543m )(Acessar)

2
Logic design principles with emphasis on testable semicustom circuits
Logic design principles with emphasis on testable semicustom circuits
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Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Logic design principles with emphasis on testable semicustom circuits

Edward J. McCluskey 1929-

Englewood Cliffs, N.J. Prentice-Hall c1986

Localização: EPELM - Esc. Politécnica-Bib Eng Elet., Mec. e Naval    (004.312 M132L )(Acessar)

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Deste Autor:

  1. McCluskey, E
  2. Dias, F

Neste Assunto:

  1. Circuitos Lógicos
  2. Logic Design
  3. Circuitos Digitais
  4. Falhas Computacionais
  5. Logic Circuits

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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