skip to main content
Idioma:
Refinado por: autor: Lee, S remover
Result Number Material Type Add to My Shelf Action Record Details and Options
1
Pattern recognition with support vector machines first international workshop, SVM 2002, Niagara Falls, Canada, August 202 : proceedings
Pattern recognition with support vector machines first international workshop, SVM 2002, Niagara Falls, Canada, August 202 : proceedings
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Pattern recognition with support vector machines first international workshop, SVM 2002, Niagara Falls, Canada, August 202 : proceedings

SVM 2002 (2002 Niagara Falls, Ont.) S.-W Lee (Seong-whan); Alessandro Verri

Berlin Springer New York 2002

Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação    (68-02 LNCS v.2388 ) e outros locais(Acessar)

2
Document analysis systems theory and practice : Third IAPR Workshop, DAS'98, Nagano, Japan, November 4-6, 1998 : selected papers
Document analysis systems theory and practice : Third IAPR Workshop, DAS'98, Nagano, Japan, November 4-6, 1998 : selected papers
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Document analysis systems theory and practice : Third IAPR Workshop, DAS'98, Nagano, Japan, November 4-6, 1998 : selected papers

DAS'98 (1998 Nagano-shi, Japan) S.-W Lee (Seong-whan); Yasuaki Nakano 1938-

Berlin New York Springer c1999

Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação    (68-02 LNCS v.1655 e.1 ) e outros locais(Acessar)

Personalize Seus Resultados

  1. Editar

Refine Search Results

Expandir Meus Resultados

  1.   

Autor/Criador 

  1. SVM 2002  (1)
  2. Nakano, Y  (1)
  3. Verri, A  (1)
  4. DAS'98  (1)
  5. Mais opções open sub menu

Data de Publicação 

De até
Refinar

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

Buscando em bases de dados remotas. Favor aguardar.