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Effect of Pt bottom electrode texture selection on the tetragonality and physical properties of Ba 0.8 Sr 0.2 TiO 3 thin films produced by pulsed laser deposition

Silva, J. P. B. ; Sekhar, K. C. ; Almeida, A. ; Moreira, J. Agostinho ; Martín-Sánchez, J. ; Pereira, M. ; Khodorov, A. ; Gomes, M. J. M.

Journal of Applied Physics, 15 August 2012, Vol.112(4) [Periódico revisado por pares]

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2
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Enhanced resistive switching and multilevel behavior in bilayered HfAlO/HfAlO x structures for non-volatile memory applications

Faita, F. L. ; Silva, J. P. B. ; Pereira, M. ; Gomes, M. J. M.

Applied Physics Letters, 14 December 2015, Vol.107(24) [Periódico revisado por pares]

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Impact of the ferroelectric layer thickness on the resistive switching characteristics of ferroelectric/dielectric structures

Silva, J. M. B. ; Silva, J. P. B. ; Sekhar, K. C. ; Pereira, M. ; Gomes, M. J. M.

Applied Physics Letters, 03 September 2018, Vol.113(10) [Periódico revisado por pares]

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4
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Semiconductor layer thickness impact on optical and resistive switching behavior of pulsed laser deposited BaTiO 3 /ZnO heterostructures

Sekhar, K. C. ; Silva, J. P. B. ; Kamakshi, Koppole ; Pereira, M. ; Gomes, M. J. M.

Applied Physics Letters, 27 May 2013, Vol.102(21) [Periódico revisado por pares]

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5
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Ferroelectric switching dynamics in 0.5Ba(Zr 0.2 Ti 0.8 )O 3 -0.5(Ba 0.7 Ca 0.3 )TiO 3 thin films

Silva, J. P. B. ; Kamakshi, K. ; Negrea, R. F. ; Ghica, C. ; Wang, J. ; Koster, G. ; Rijnders, G. ; Figueiras, F. ; Pereira, M. ; Gomes, M. J. M.

Applied Physics Letters, 20 August 2018, Vol.113(8) [Periódico revisado por pares]

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Unraveling the resistive switching effect in ZnO/0.5Ba(Zr0.2Ti0.8)O3-0.5(Ba0.7Ca0.3)TiO3 heterostructures

Silva, J.P.B ; Vorokhta, M ; Dvořák, F ; Sekhar, K.C ; Matolín, V ; Moreira, J. Agostinho ; Pereira, M ; Gomes, M.J.M

Applied Surface Science, 01 April 2017, Vol.400, pp.453-460 [Periódico revisado por pares]

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On the formation of an interface amorphous layer in nanostructured ferroelectric Ba0.8Sr0.2TiO3 thin films integrated on Pt–Si and its effect on the electrical properties

Silva, J.P.B ; Sekhar, K.C ; Rodrigues, S.A.S ; Pereira, M ; Parisini, A ; Alves, E ; Barradas, N.P ; Gomes, M.J.M

Applied Surface Science, 01 August 2013, Vol.278, pp.136-141 [Periódico revisado por pares]

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Annealing induced effect on the physical properties of ion-beam sputtered 0.5Ba(Zr0.2Ti0.8)O3 – 0.5(Ba0.7Ca0.3)TiO3-δ ferroelectric thin films

Oliveira, M.J.S ; Silva, J.P.B ; Veltruská, Kateřina ; Matolín, V ; Sekhar, K.C ; Moreira, J. Agostinho ; Pereira, M ; Gomes, M.J.M

Applied Surface Science, 15 June 2018, Vol.443, pp.354-360 [Periódico revisado por pares]

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Resistive switching in ferroelectric lead-free 0.5ba (zr 0.2 ti 0.8 )o 3 –0.5(ba 0.7 ca 0.3 )tio 3 thin films

Silva, J P B ; Kamakshi, K ; Sekhar, K C ; Queirós, E C ; Agostinho Moreira, J ; Almeida, A ; Pereira, M ; Tavares, P B ; Gomes, M J M

Journal of Physics D: Applied Physics, 2016, Vol.49(33), p.335301 (9pp) [Periódico revisado por pares]

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Ferroelectric properties of pulsed laser deposited PZT (92/8) thin films.(Report)

Silva, J. P. B. ; Rodrigues, S. A. S. ; Sekhar, K. C. ; Pereira, M. ; Gomes, M. J. M.

Journal of Materials Science: Materials in Electronics, Dec, 2013, Vol.24(12), p.5097(5) [Periódico revisado por pares]

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