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1996Até2011

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1	Material Type: Artigo		Remote transfer of ultrastable frequency references via fiber networks Foreman, Seth M. ; Holman, Kevin W. ; Hudson, Darren D. ; Jones, David J. ; Ye, Jun Review of Scientific Instruments, 2007-02, Vol.78 (2), p.021101-021101-25 [Periódico revisado por pares] United States: American Institute of Physics Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
2	$Beamline I11 at Diamond: A new instrument for high resolution powder diffraction$ $Beamline I11 at Diamond: A new instrument for high resolution powder diffraction$ Material Type: Artigo		Beamline I11 at Diamond: A new instrument for high resolution powder diffraction Thompson, S P ; Parker, J E ; Potter, J ; Hill, T P ; Birt, A ; Cobb, T M ; Yuan, F ; Tang, C C Review of scientific instruments, 2009-07, Vol.80 (7), p.075107-075107-9 [Periódico revisado por pares] United States: American Institute of Physics Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
3	Material Type: Artigo		Accuracy and precision in photonic Doppler velocimetry Dolan, D H Review of scientific instruments, 2010-05, Vol.81 (5), p.053905-053905-7 [Periódico revisado por pares] United States: American Institute of Physics Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
4	Material Type: Artigo		Two-dimensional charged particle image inversion using a polar basis function expansion Garcia, Gustavo A. ; Nahon, Laurent ; Powis, Ivan Review of scientific instruments, 2004-11, Vol.75 (11), p.4989-4996 [Periódico revisado por pares] United States Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
5	Material Type: Artigo		IBSIMU: a three-dimensional simulation software for charged particle optics Kalvas, T ; Tarvainen, O ; Ropponen, T ; Steczkiewicz, O ; Arje, J ; Clark, H Review of scientific instruments, 2010-02, Vol.81 (2), p.02B703-02B703 [Periódico revisado por pares] United States Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
6	Material Type: Artigo		Advanced photoelectric effect experiment beamline at Elettra: A surface science laboratory coupled with Synchrotron Radiation Panaccione, G ; Vobornik, I ; Fujii, J ; Krizmancic, D ; Annese, E ; Giovanelli, L ; Maccherozzi, F ; Salvador, F ; De Luisa, A ; Benedetti, D ; Gruden, A ; Bertoch, P ; Polack, F ; Cocco, D ; Sostero, G ; Diviacco, B ; Hochstrasser, M ; Maier, U ; Pescia, D ; Back, C H ; Greber, T ; Osterwalder, J ; Galaktionov, M ; Sancrotti, M ; Rossi, G Review of scientific instruments, 2009-04, Vol.80 (4), p.043105-043105-12 [Periódico revisado por pares] United States: American Institute of Physics Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
7	Material Type: Artigo		Invited Review Article: Measurement uncertainty of linear phase-stepping algorithms Hack, Erwin ; Burke, Jan Review of Scientific Instruments, 2011-06, Vol.82 (6), p.061101-061101-16 [Periódico revisado por pares] United States: American Institute of Physics Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
8	Material Type: Artigo		Rapidly pulsed helium droplet source Pentlehner, Dominik ; Riechers, Ricarda ; Dick, Bernhard ; Slenczka, Alkwin ; Even, Uzi ; Lavie, Nachum ; Brown, Raviv ; Luria, Kfir Review of scientific instruments, 2009-04, Vol.80 (4), p.043302-043302-9 [Periódico revisado por pares] United States: American Institute of Physics Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
9	Material Type: Artigo		Retarding field analyzer for ion energy distribution measurements at a radio-frequency biased electrode Gahan, D ; Dolinaj, B ; Hopkins, M B Review of scientific instruments, 2008-03, Vol.79 (3), p.033502-033502 [Periódico revisado por pares] United States Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
10	Material Type: Artigo		Scanning photoelectron microscope for nanoscale three-dimensional spatial-resolved electron spectroscopy for chemical analysis Horiba, K ; Nakamura, Y ; Nagamura, N ; Toyoda, S ; Kumigashira, H ; Oshima, M ; Amemiya, K ; Senba, Y ; Ohashi, H Review of scientific instruments, 2011-11, Vol.82 (11), p.113701-113701-6 [Periódico revisado por pares] United States: American Institute of Physics Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por

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