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1	Material Type: Artigo		Photonics-Based Broadband Microwave Measurement Pan, Shilong ; Yao, Jianping Journal of lightwave technology, 2017-08, Vol.35 (16), p.3498-3513 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
2	Material Type: Artigo		Sequential unbiased converted measurement non-linear filter with range rate in ECEF coordinates Li, Song ; Cheng, Yongmei ; Gou, Bin ; Gao, Shibo IET radar, sonar & navigation, 2020-07, Vol.14 (7), p.1113-1124 [Periódico revisado por pares] The Institution of Engineering and Technology Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
3	Material Type: Artigo		A Self-Calibrated SI-Traceable Rydberg Atom-Based Radio Frequency Electric Field Probe and Measurement Instrument Anderson, David Alexander ; Sapiro, Rachel Elizabeth ; Raithel, Georg IEEE transactions on antennas and propagation, 2021-09, Vol.69 (9), p.5931-5941 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
4	Material Type: Artigo		Single-Frequency Phaseless Data-Based Echo Suppression for Antenna Pattern Measurement in a Nonideal Chamber Wang, Heng ; Wang, Weimin ; Zhang, Fengchun ; Wu, Yongle ; Liu, Yuanan ; Pedersen, Gert Frolund ; Fan, Wei IEEE transactions on antennas and propagation, 2024-01, Vol.72 (1), p.197-211 [Periódico revisado por pares] IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
5	Material Type: Artigo		Low error and broadband microwave frequency measurement using a silicon Mach-Zehnder interferometer coupled ring array Liu, Li ; Yu, Zhihua Journal of lightwave technology, 2023-10, Vol.41 (19), p.1-8 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
6	Material Type: Artigo		A New Baseline Measurement Method for Multinode and Multibaseline Interferometric SAR Systems Using Fiber Bragg Gratings Zhu, Zhuangsheng ; Zhang, Meng ; Zhou, Xiangyang IEEE transactions on aerospace and electronic systems, 2022-02, Vol.58 (1), p.4-16 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
7	Material Type: Artigo		Methods and Practices for In Situ Measurements of RF EMF Exposure From 5G Millimeter Wave Base Stations Colombi, Davide ; Ghasemifard, Fatemeh ; Joshi, Paramananda ; Xu, Bo ; Paola, Carla Di ; Tornevik, Christer IEEE transactions on electromagnetic compatibility, 2022-12, Vol.64 (6), p.1986-1993 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
8	Material Type: Artigo		Hybrid Measurements-Based Fast State Estimation for Power Distribution System He, Xi ; Li, Chang ; Du, Mingdi ; Dong, Heng ; Li, Peng IEEE access, 2021, Vol.9, p.21112-21122 [Periódico revisado por pares] Piscataway: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
9	Material Type: Artigo		Numerical and Experimental Investigation of Phaseless Spherical Near-Field Antenna Measurements Rodriguez Varela, Fernando ; Fernandez Alvarez, Javier ; Galocha Iraguen, Belen ; Sierra Castaner, Manuel ; Breinbjerg, Olav IEEE transactions on antennas and propagation, 2021-12, Vol.69 (12), p.8830-8841 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
10	Material Type: Artigo		Measurement Method for the Dispersion Curves of a Spoof SPP Transmission Line Using a Single Sample Zhang, Hao Chi ; Zhang, Le Peng ; Lu, Jiayuan ; Shao, Chenzi ; He, Pei Hang ; Cui, Wen Yi ; Huang, Yi Fei ; Cui, Tie Jun IEEE transactions on antennas and propagation, 2023-02, Vol.71 (2), p.1843-1850 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por

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