skip to main content
Resultados 1 2 3 4 5 next page
Mostrar Somente
Refinado por: Base de dados/Biblioteca: Science Citation Index Expanded (Web of Science) remover
Result Number Material Type Add to My Shelf Action Record Details and Options
1
Internal friction and electrical resistivity of vacuum-deposited silver films
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Internal friction and electrical resistivity of vacuum-deposited silver films

Uozumi, K. ; Honda, H. ; Yokota, H. ; Ebisu, H.

Thin solid films, , Vol.34 (2), p.221-224 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

Texto completo disponível

2
Electroluminescence in non-aqueous solutions
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Electroluminescence in non-aqueous solutions

Bader, J.M. ; Kuwana, T.

Journal of electroanalytical chemistry, 1965-01, Vol.10 (2), p.104-109

Elsevier B.V

Texto completo disponível

3
Penetrating ability of cutting fluids
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Penetrating ability of cutting fluids

Postnikov, S.N.

Wear, 1967-01, Vol.10 (2), p.142-150 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

Texto completo disponível

4
An internal friction study of the allotropic transformations of plutonium, uranium and cobalt
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

An internal friction study of the allotropic transformations of plutonium, uranium and cobalt

Selle, James E. ; Focke, A.E.

Journal of nuclear materials, 1969-01, Vol.33 (2), p.149-158 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

Texto completo disponível

5
Doping of epitaxial silicon
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Doping of epitaxial silicon

Hurle, D.T.J. ; Logan, R.M. ; Farrow, R.F.C.

Journal of crystal growth, 1972, Vol.12 (1), p.73-75 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

Texto completo disponível

6
X-ray determination of the Poisson's ratio in thin films
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

X-ray determination of the Poisson's ratio in thin films

Basile, Giuseppe ; Martini, Giovanni ; Zosi, Gianfranco

Thin solid films, 1972-01, Vol.11 (2), p.441-443 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

Texto completo disponível

7
Isopaustic glasses
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Isopaustic glasses

Field, M.B.

Ultrasonics, 1972-01, Vol.10 (5), p.231-234 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

Texto completo disponível

8
Electron microscope and electron diffraction investigations of boron thin-film structure
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Electron microscope and electron diffraction investigations of boron thin-film structure

Postnikov, V.S. ; Tavadze, F.N. ; Ievlev, V.M. ; Zolotukhin, I.V.

Journal of the less-common metals, 1976-01, Vol.47, p.255-258

Elsevier B.V

Texto completo disponível

9
Electron microscope investigation of the structure of epitaxial single-crystal interfaces of various orientations
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Electron microscope investigation of the structure of epitaxial single-crystal interfaces of various orientations

Postnikov, V.S. ; Ijevlev, V.M. ; Solovjev, K.S.

Thin solid films, 1976-01, Vol.32 (1), p.173-176 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

Texto completo disponível

10
Thermal and motional aspects of the 50 K transition in PdH and PdD
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Thermal and motional aspects of the 50 K transition in PdH and PdD

Jacobs, J.K. ; Manchester, F.D.

Journal of the less-common metals, 1976-09, Vol.49, p.67-73

Elsevier B.V

Texto completo disponível

Resultados 1 2 3 4 5 next page

Personalize Seus Resultados

  1. Editar

Refine Search Results

Expandir Meus Resultados

  1.   

Mostrar Somente

  1. Revistas revisadas por pares (2.413)

Data de Publicação 

De até
  1. Antes de1982  (20)
  2. 1982Até1991  (37)
  3. 1992Até2001  (185)
  4. 2002Até2012  (523)
  5. Após 2012  (1.693)
  6. Mais opções open sub menu

Idioma 

  1. Inglês  (2.456)
  2. Japonês  (204)
  3. Russo  (13)
  4. Francês  (3)
  5. Alemão  (3)
  6. Norueguês  (1)
  7. Mais opções open sub menu

Buscando em bases de dados remotas. Favor aguardar.