skip to main content

Idioma:

Resultados de 1 a 10 de 18 para Busca Geral

Ordenado por: Ordenado por: AutorOr hit Enter to replace sort method

Resultados 1 2

next page

Mostrar Somente

Revistas revisadas por pares (17)

Refinado por: assunto: Materials Science

remover

assunto: Physics

remover

assunto: X-Ray Diffraction

remover

Result Number	Material Type	Add to My Shelf Action	Record Details and Options
1	Material Type: Artigo		Epitaxial growth of ZrN on Si(100) BARNETT, S. A ; HULTMAN, L ; SUNDGREN, J.-E ; RONIN, F ; ROHDE, S Appl. Phys. Lett.; (United States), 1988-08, Vol.53 (5), p.400-402 [Periódico revisado por pares] Melville, NY: American Institute of Physics Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
2	Material Type: Artigo		Formation of basal plane fiber-textured Ti2AlN films on amorphous substrates Beckers, M. ; Eriksson, F. ; Lauridsen, J. ; Baehtz, C. ; Jensen, J. ; Hultman, L. Physica status solidi. PSS-RRL. Rapid research letters, 2010-06, Vol.4 (5-6), p.121-123 [Periódico revisado por pares] Berlin: WILEY-VCH Verlag Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
3	Material Type: Artigo		The influence of substrate temperature and Al mobility on the microstructural evolution of magnetron sputtered ternary Ti-Al-N thin films Beckers, M ; Höglund, C ; Baehtz, C ; Martins, R M. S ; Persson, P O. Å ; Hultman, L ; Möller, W Journal of applied physics, 2009-09, Vol.106 (6), p.064915-064915-7 [Periódico revisado por pares] United States: American Institute of Physics Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
4	$Synchrotron x-ray diffraction and transmission electron microscopy studies of interfacial reaction paths and kinetics during annealing of fully-002-textured Al/TiN bilayers$ $Synchrotron x-ray diffraction and transmission electron microscopy studies of interfacial reaction paths and kinetics during annealing of fully-002-textured Al/TiN bilayers$ Material Type: Artigo		Synchrotron x-ray diffraction and transmission electron microscopy studies of interfacial reaction paths and kinetics during annealing of fully-002-textured Al/TiN bilayers Chun, J.-S. ; Carlsson, J. R. A. ; Desjardins, P. ; Bergstrom, D. B. ; Petrov, I. ; Greene, J. E. ; Lavoie, C. ; Cabral, C. ; Hultman, L. J. Vac. Sci. Technol. A, 2001-01, Vol.19 (1), p.182-191 [Periódico revisado por pares] United States Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
5	Material Type: Artigo		Microstructure and electrical properties of Ti–Si–C–Ag nanocomposite thin films Eklund, P. ; Joelsson, T. ; Ljungcrantz, H. ; Wilhelmsson, O. ; Czigány, Zs ; Högberg, H. ; Hultman, L. Surface & coatings technology, 2007, Vol.201 (14), p.6465-6469 [Periódico revisado por pares] Lausanne: Elsevier B.V Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
6	Material Type: Artigo		Homoepitaxial growth of Ti-Si-C MAX-phase thin films on bulk Ti3SiC2 substrates EKLUND, P ; MURUGAIAH, A ; EMMERLICH, J ; CZIGANY, Zs ; FRODELIUS, J ; BARSOUM, M. W ; HÖGBERG, H ; HULTMAN, L Journal of crystal growth, 2007-06, Vol.304 (1), p.264-269 [Periódico revisado por pares] Amsterdam: Elsevier Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
7	Material Type: Artigo		Sputter deposition from a Ti2AlC target: Process characterization and conditions for growth of Ti2AlC FRODELIUS, J ; EKLUND, P ; BECKERS, M ; PERSSON, P. O. A ; HÖGBERG, H ; HULTMAN, L Thin solid films, 2010, Vol.518 (6), p.1621-1626 [Periódico revisado por pares] Amsterdam: Elsevier Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
8	Material Type: Artigo		Ti2AlC coatings deposited by High Velocity Oxy-Fuel spraying FRODELIUS, Jenny ; SONESTEDT, Marie ; BJÖRKLUND, Stefan ; PALMQUIST, Jens-Petter ; STILLER, Krystyna ; HÖGBERG, Hans ; HULTMAN, Lars Surface & coatings technology, 2008-08, Vol.202 (24), p.5976-5981 [Periódico revisado por pares] Amsterdam: Elsevier Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
9	Material Type: Artigo		Carbide and nanocomposite thin films in the Ti–Pt–C system Lewin, Erik ; Buchholt, Kristina ; Lu, Jun ; Hultman, Lars ; Spetz, Anita Lloyd ; Jansson, Ulf Thin solid films, 2010-07, Vol.518 (18), p.5104-5109 [Periódico revisado por pares] Amsterdam: Elsevier B.V Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
10	Material Type: Artigo		Nanoindentation studies of single-crystal (001)-, (011)-, and (111)-oriented TiN layers on MgO Ljungcrantz, H. ; Odén, M. ; Hultman, L. ; Greene, J. E. ; Sundgren, J.-E. Journal of Applied Physics, 1996-12, Vol.80 (12), p.6725-6733 [Periódico revisado por pares] United States Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por

Resultados de 1 a 10 de 18 para Busca Geral

Ordenado por: Ordenado por: AutorOr hit Enter to replace sort method

Resultados 1 2

next page

Personalize Seus Resultados

Editar

RSS

Enviar página para o Meu Espaço

Refine Search Results

Expandir Meus Resultados

Expandir meus resultados

Mostrar Somente

Revistas revisadas por pares (17)

Neste Assunto:

Realização: Logos de Redes Sociais:

Buscando em bases de dados remotas. Favor aguardar.

Buscando por
emscope:(USP_VIDEOS),scope:("PRIMO"),scope:(USP_FISICO),scope:(USP_EREVISTAS),scope:(USP),scope:(USP_EBOOKS),scope:(USP_PRODUCAO),primo_central_multiple_fe
Mostrar o que foi encontrado até o momento