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Refinado por: assunto: Método De Rietveld remover
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Aplicación del ajuste de Rietveld para correlacionar la evolución microestructural de fundiciones blancas con 18 y 25% en Cromo, templadas en aceite y sucesivos revenidos, con el comportamiento frente al desgaste abrasivo y esfuerzos de flexión
Aplicación del ajuste de Rietveld para correlacionar la evolución microestructural de fundiciones blancas con 18 y 25% en Cromo, templadas en aceite y sucesivos revenidos, con el comportamiento frente al desgaste abrasivo y esfuerzos de flexión
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Aplicación del ajuste de Rietveld para correlacionar la evolución microestructural de fundiciones blancas con 18 y 25% en Cromo, templadas en aceite y sucesivos revenidos, con el comportamiento frente al desgaste abrasivo y esfuerzos de flexión

Álvarez Antolín, José F. ; Francos Garrote, Laura ; Asensio Lozano, Juan

Revista de metalurgia (Madrid), 2018-03, Vol.54 (1), p.113-e113 [Periódico revisado por pares]

Consejo Superior de Investigaciones Científicas

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Iron ore classification by XRD-Rietveld and cluster analysis; Classificação de minério de ferro por DRX-Rietveld e análise de agrupamento
Iron ore classification by XRD-Rietveld and cluster analysis; Classificação de minério de ferro por DRX-Rietveld e análise de agrupamento
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Iron ore classification by XRD-Rietveld and cluster analysis; Classificação de minério de ferro por DRX-Rietveld e análise de agrupamento

Andrade, Fábio Ramos Dias De; Gobbo, Luciano De Andrade; Sousa, Lyvia Fernanda Amaral

Geologia USP. Série Científica; Vol. 16 Núm. 2 (2016); 19-24

Universidade de São Paulo. Instituto de Geociências 2016-07-28

Acesso online

3
A difração de raios X com o método de Rietveld aplicada a bauxitas de Porto Trombetas, PA.  
A difração de raios X com o método de Rietveld aplicada a bauxitas de Porto Trombetas, PA.  
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Dissertação de Mestrado 		Adicionar ao Meu Espaço

A difração de raios X com o método de Rietveld aplicada a bauxitas de Porto Trombetas, PA.  

Antoniassi, Juliana Lívi

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Escola Politécnica 2010-03-18

Acesso online

4
Uso de espectroscopias e difração de raios X aplicadas à caracterização mineralógica de solos
Uso de espectroscopias e difração de raios X aplicadas à caracterização mineralógica de solos
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Tese de Doutorado 		Adicionar ao Meu Espaço

Uso de espectroscopias e difração de raios X aplicadas à caracterização mineralógica de solos

Brinatti, André Mauricio

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Física de São Carlos 2001-08-03

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

5
Structural characterization of liquid phase sintered silicon carbide by high-resolution X-ray diffractometry Caracterização estrutural do carbeto de silício sinterizado na presença de fase líquida por difratometria de raios X de alta resolução
Structural characterization of liquid phase sintered silicon carbide by high-resolution X-ray diffractometry Caracterização estrutural do carbeto de silício sinterizado na presença de fase líquida por difratometria de raios X de alta resolução
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Structural characterization of liquid phase sintered silicon carbide by high-resolution X-ray diffractometry Caracterização estrutural do carbeto de silício sinterizado na presença de fase líquida por difratometria de raios X de alta resolução

C. A. Kelly ; P. A. Suzuki ; S. Ribeiro ; S. Kycia

Cerâmica (São Paulo), 2005-06, Vol.51 (318), p.168-172 [Periódico revisado por pares]

Associação Brasileira de Cerâmica

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6
Caracterização estrutural por difração de raios X de alta resolução de SiAlONs sinterizados com diferentes aditivos Structural characterization by high-resolution X-ray diffraction of SiAlONs sintered with different additives
Caracterização estrutural por difração de raios X de alta resolução de SiAlONs sinterizados com diferentes aditivos Structural characterization by high-resolution X-ray diffraction of SiAlONs sintered with different additives
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Caracterização estrutural por difração de raios X de alta resolução de SiAlONs sinterizados com diferentes aditivos Structural characterization by high-resolution X-ray diffraction of SiAlONs sintered with different additives

C. Santos ; P. A. Suzuki ; K. Strecker ; S. Kycia ; C. R. M. Silva

Cerâmica (São Paulo), 2005-12, Vol.51 (320), p.313-317 [Periódico revisado por pares]

Associação Brasileira de Cerâmica

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7
Os compostos do clínquer Portland: sua caracterização por difração de raios-X e quantificação por refinamento de Rietveld.
Os compostos do clínquer Portland: sua caracterização por difração de raios-X e quantificação por refinamento de Rietveld.
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Dissertação de Mestrado 		Adicionar ao Meu Espaço

Os compostos do clínquer Portland: sua caracterização por difração de raios-X e quantificação por refinamento de Rietveld.

Gobbo, Luciano De Andrade

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Geociências 2003-03-14

Acesso online

8
Determinação do teor de alumínio em drosses brancas de alumínio utilizando difração de raios-x.
Determinação do teor de alumínio em drosses brancas de alumínio utilizando difração de raios-x.
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Determinação do teor de alumínio em drosses brancas de alumínio utilizando difração de raios-x.

Gómez Gómez, Adriana

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Escola Politécnica 2006-03-28

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

9
Investigação da estrutura local e média de nanopartículas por técnicas de espalhamento e difração de raios X
Investigação da estrutura local e média de nanopartículas por técnicas de espalhamento e difração de raios X
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Tese de Doutorado 		Adicionar ao Meu Espaço

Investigação da estrutura local e média de nanopartículas por técnicas de espalhamento e difração de raios X

Ichikawa, Rodrigo Uchida

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares 2018-04-19

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

10
Influence of diopside: feldspar ratio in ceramic reactions assessed by quantitative phase analysis (X-ray diffraction - Rietveld method)
Influence of diopside: feldspar ratio in ceramic reactions assessed by quantitative phase analysis (X-ray diffraction - Rietveld method)
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Influence of diopside: feldspar ratio in ceramic reactions assessed by quantitative phase analysis (X-ray diffraction - Rietveld method)

Kuzmickas, L. ; Andrade, F. R. D. ; Szabó, G. A. J. ; Motta, J. F. M. ; Cabral Jr, M.

Cerâmica, 2013-06, Vol.59 (350), p.345-350 [Periódico revisado por pares]

Associação Brasileira de Cerâmica

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Deste Autor:

  1. Mascarenhas, Y
  2. Gobbo, L
  3. Martinez, L
  4. Silva, M
  5. Maranhão, W

Neste Assunto:

  1. X-Ray Diffraction
  2. Rietveld Method
  3. Difração De Raios X
  4. Método De Rietveld
  5. Método De Rietveld

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