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A Low Level Current Mode Gate and its Associated Novel Current Source for a High Speed, 16 Bit, Single Chip Microprocessor using C D I
A Low Level Current Mode Gate and its Associated Novel Current Source for a High Speed, 16 Bit, Single Chip Microprocessor using C D I
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A Low Level Current Mode Gate and its Associated Novel Current Source for a High Speed, 16 Bit, Single Chip Microprocessor using C D I

Colaco, S

1975 First European Solid State Circuits Conference (ESSCIRC), 1975, p.121-121

IEEE

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2
The Impact of VLSI on the European Electronics Industry
The Impact of VLSI on the European Electronics Industry
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The Impact of VLSI on the European Electronics Industry

Brinker, C.S. den ; Mackintosh, I.M.

ESSCIRC '77: 3rd European Solid State Circuits Conference, 1977, p.27-27

IEEE

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3
The Impact of Very Large Scale Integration (VLSI) on Systems and People
The Impact of Very Large Scale Integration (VLSI) on Systems and People
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The Impact of Very Large Scale Integration (VLSI) on Systems and People

Folberth, O. G.

ESSCIRC '77: 3rd European Solid State Circuits Conference, 1977, p.21-26

IEEE

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4
Foreword (June 1978)
Foreword (June 1978)
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Foreword (June 1978)

IEEE journal of solid-state circuits, 1978-06, Vol.13 (3), p.283-284 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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5
Wafer-scale integration-a fault-tolerant procedure
Wafer-scale integration-a fault-tolerant procedure
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Wafer-scale integration-a fault-tolerant procedure

Aubusson, R.C. ; Catt, I.

IEEE journal of solid-state circuits, 1978-06, Vol.13 (3), p.339-344 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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6
A 64-kbit dynamic MOS RAM
A 64-kbit dynamic MOS RAM
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

A 64-kbit dynamic MOS RAM

Arai, E. ; Ieda, N.

IEEE journal of solid-state circuits, 1978-06, Vol.13 (3), p.333-338 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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7
Ultra-High Density VLSI Modules
Ultra-High Density VLSI Modules
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Ultra-High Density VLSI Modules

Ciccio, J. ; Thun, R.

IEEE transactions on components, hybrids, and manufacturing technology, 1978-09, Vol.1 (3), p.242-248

IEEE

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8
MA-4 the prospects for ultra-high speed VLSI GaAs digital logic
MA-4 the prospects for ultra-high speed VLSI GaAs digital logic
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

MA-4 the prospects for ultra-high speed VLSI GaAs digital logic

Eden, R.C.

IEEE transactions on electron devices, 1978-11, Vol.25 (11), p.1339-1340 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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9
An Assessment of the Radiation Tolerance of Collector Diffusion Isolation Bipolar Technology
An Assessment of the Radiation Tolerance of Collector Diffusion Isolation Bipolar Technology
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

An Assessment of the Radiation Tolerance of Collector Diffusion Isolation Bipolar Technology

Richards, R F ; Slater, S R ; Colaco, S F

IEEE transactions on nuclear science, 1979-01, Vol.26 (1), p.952-958 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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10
1 /spl mu/m MOSFET VLSI technology. VII. Metal silicide interconnection technology - A future perspective
1 /spl mu/m MOSFET VLSI technology. VII. Metal silicide interconnection technology - A future perspective
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

1 /spl mu/m MOSFET VLSI technology. VII. Metal silicide interconnection technology - A future perspective

Crowder, B.L. ; Zirinsky, S.

IEEE journal of solid-state circuits, 1979-04, Vol.14 (2), p.291-293 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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