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Hair fiber characteristics and methods to evaluate hair physical and mechanical properties
Hair fiber characteristics and methods to evaluate hair physical and mechanical properties
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Hair fiber characteristics and methods to evaluate hair physical and mechanical properties

Velasco, Maria Valéria Robles ; Dias, Tania Cristina de Sá ; Freitas, Anderson Zanardi de ; Júnior, Nilson Dias Vieira ; Pinto, Claudinéia Aparecida Sales de Oliveira ; Kaneko, Telma Mary ; Baby, André Rolim

Brazilian Journal of Pharmaceutical Sciences, 2009-03, Vol.45 (1), p.153-162 [Periódico revisado por pares]

Universidade de São Paulo, Faculdade de Ciências Farmacêuticas

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2
Chalcogenide photonics
Chalcogenide photonics
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Chalcogenide photonics

Eggleton, Benjamin J ; Luther-Davies, Barry ; Richardson, Kathleen

Nature photonics, 2011-03, Vol.5 (3), p.141-148 [Periódico revisado por pares]

London: Nature Publishing Group

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3
PDMS residues-free micro/macrostructures on flexible substrates
PDMS residues-free micro/macrostructures on flexible substrates
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

PDMS residues-free micro/macrostructures on flexible substrates

Dahiya, Ravinder ; Gottardi, Gloria ; Laidani, Nadhira

Microelectronic engineering, 2015-03, Vol.136, p.57-62 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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4
Recent Advances on Quantum-Dot-Enhanced Liquid-Crystal Displays
Recent Advances on Quantum-Dot-Enhanced Liquid-Crystal Displays
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Recent Advances on Quantum-Dot-Enhanced Liquid-Crystal Displays

Chen, Haiwei ; He, Juan ; Wu, Shin-Tson

IEEE journal of selected topics in quantum electronics, 2017-09, Vol.23 (5), p.1-11 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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Quantum Cascade Detectors
Quantum Cascade Detectors
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Quantum Cascade Detectors

Giorgetta, F.R. ; Baumann, E. ; Graf, M. ; Quankui Yang ; Manz, C. ; Kohler, K. ; Beere, H.E. ; Ritchie, D.A. ; Linfield, E. ; Davies, A.G. ; Fedoryshyn, Y. ; Jackel, H. ; Fischer, M. ; Faist, J. ; Hofstetter, D.

IEEE journal of quantum electronics, 2009-08, Vol.45 (8), p.1039-1052 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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6
Temperature-Dependent Internal Quantum Efficiency of Blue High-Brightness Light-Emitting Diodes
Temperature-Dependent Internal Quantum Efficiency of Blue High-Brightness Light-Emitting Diodes
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Temperature-Dependent Internal Quantum Efficiency of Blue High-Brightness Light-Emitting Diodes

Titkov, Ilya E. ; Karpov, Sergey Yu ; Yadav, Amit ; Zerova, Vera L. ; Zulonas, Modestas ; Galler, Bastian ; Strassburg, Martin ; Pietzonka, Ines ; Lugauer, Hans-Juergen ; Rafailov, Edik U.

IEEE journal of quantum electronics, 2014-11, Vol.50 (11), p.911-920 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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7
Endogenous and Exogenous Fluorescence Skin Cancer Diagnostics for Clinical Applications
Endogenous and Exogenous Fluorescence Skin Cancer Diagnostics for Clinical Applications
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Endogenous and Exogenous Fluorescence Skin Cancer Diagnostics for Clinical Applications

Borisova, Ekaterina G. ; Angelova, Liliya P. ; Pavlova, Elmira P.

IEEE journal of selected topics in quantum electronics, 2014-03, Vol.20 (2), p.211-222 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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8
Amorphous Oxide Semiconductor TFTs for Displays and Imaging
Amorphous Oxide Semiconductor TFTs for Displays and Imaging
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Amorphous Oxide Semiconductor TFTs for Displays and Imaging

Nathan, Arokia ; Sungsik Lee ; Sanghun Jeon ; Robertson, John

Journal of display technology, 2014-11, Vol.10 (11), p.917-927

New York: IEEE

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9
InGaAs Quantum-Dot Mode-Locked Laser Diodes
InGaAs Quantum-Dot Mode-Locked Laser Diodes
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InGaAs Quantum-Dot Mode-Locked Laser Diodes

Thompson, M.G. ; Rae, A.R. ; Mo Xia ; Penty, R.V. ; White, I.H.

IEEE journal of selected topics in quantum electronics, 2009-05, Vol.15 (3), p.661-672 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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10
Frequency Response Enhancement of Optical Injection-Locked Lasers
Frequency Response Enhancement of Optical Injection-Locked Lasers
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Frequency Response Enhancement of Optical Injection-Locked Lasers

Lau, E.K. ; Hyuk-Kee Sung ; Wu, M.C.

IEEE journal of quantum electronics, 2008-01, Vol.44 (1), p.90-99 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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