skip to main content
Idioma:
Resultados 1 2 3 4 5 next page
Mostrar Somente
Refinado por: tipo de recurso: Anais de Congresso remover
Result Number Material Type Add to My Shelf Action Record Details and Options
1
Psicosis Exógena Aguda por accidente vascular encefálico: experiencia con 9 pacientes
Psicosis Exógena Aguda por accidente vascular encefálico: experiencia con 9 pacientes
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Psicosis Exógena Aguda por accidente vascular encefálico: experiencia con 9 pacientes

DONOSO S, A ; BRUNETTI L, M ; SANTANDER C, M

Revista Medica de Chile, 1984, Vol.112 (10), p.1017-1020 [Periódico revisado por pares]

Santiago: Sociedad Medica de Santiago

Sem texto completo

Citações Citado por
2
Developmental patterning of the vertebrate limb
Developmental patterning of the vertebrate limb
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Developmental patterning of the vertebrate limb

Hinchliffe, J. R ; Hurle, Juan M ; Summerbell, Dennis

New York: Plenum Press 1991

Texto completo disponível

Citações Citado por
3
A moveable shielding box adaptable to commercial automatic wafer probers
A moveable shielding box adaptable to commercial automatic wafer probers
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

A moveable shielding box adaptable to commercial automatic wafer probers

Lozano, M. ; Cane, C. ; Santander, J. ; Gracia, I. ; Lora-Tamayo, E.

ICMTS 93 Proceedings of the 1993 International Conference on Microelectronic Test Structures, 1993, p.219-222

IEEE

Texto completo disponível

Citações Citado por
4
An easy technique for determining diffusion and generation-recombination components of the current of pn junctions for better modelling
An easy technique for determining diffusion and generation-recombination components of the current of pn junctions for better modelling
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

An easy technique for determining diffusion and generation-recombination components of the current of pn junctions for better modelling

Cane, C. ; Lozano, M. ; Gracia, I. ; Santander, J. ; Lora-Tamayo, E.

ICMTS 93 Proceedings of the 1993 International Conference on Microelectronic Test Structures, 1993, p.167-170

IEEE

Texto completo disponível

Citações Citado por
5
A combined CBR-MOS gate structure for mobility and channel width extraction
A combined CBR-MOS gate structure for mobility and channel width extraction
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

A combined CBR-MOS gate structure for mobility and channel width extraction

Santander, J. ; Lozano, M. ; Cane, C. ; Lora-Tamayo, E.

Proceedings International Conference on Microelectronic Test Structures, 1995, p.277-281

IEEE

Texto completo disponível

Citações Citado por
6
Universal surfaces for the accurate contact resistivity extraction on Kelvin structures with upper and lower resistive layers
Universal surfaces for the accurate contact resistivity extraction on Kelvin structures with upper and lower resistive layers
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Universal surfaces for the accurate contact resistivity extraction on Kelvin structures with upper and lower resistive layers

Santander, J. ; Lozano, M. ; Gotz, A. ; Cane, C. ; Lora-Tamayo, E.

Proceedings of International Conference on Microelectronic Test Structures, 1996, p.67-74

IEEE

Texto completo disponível

Citações Citado por
7
Prediction and measurement of detent torque of a single-phase machine
Prediction and measurement of detent torque of a single-phase machine
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Prediction and measurement of detent torque of a single-phase machine

Santander, E ; Ben Ahmed, A ; Gabsi, M

Eighth International Conference on Electrical Machines and Drives, 1997, p.210-214

London: IEE

Texto completo disponível

Citações Citado por
8
A digital test structure for simultaneous bird's beak length and misalignment measurement in polysilicon emitter bipolar technologies
A digital test structure for simultaneous bird's beak length and misalignment measurement in polysilicon emitter bipolar technologies
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

A digital test structure for simultaneous bird's beak length and misalignment measurement in polysilicon emitter bipolar technologies

Ullan, M. ; Lozano, M. ; Santander, J. ; Lora-Tamayo, E. ; Nigrin, S. ; Osborne, P.H.

1997 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures Proceedings, 1997, p.25-30

IEEE

Texto completo disponível

Citações Citado por
9
Test structures for MCM-D technology characterization
Test structures for MCM-D technology characterization
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Test structures for MCM-D technology characterization

Lozano, M. ; Santander, J. ; Cabruja, E. ; Perello, C. ; Ullan, M. ; Lora-Tamayo, E.

ICMTS 1998. Proceedings of 1998 International Conference on Microelectronic Test Structures (Cat. No.98CH36157), 1998, p.183-188

IEEE

Texto completo disponível

Citações Citado por
10
Comparison of single and three-phase permanent magnet motor drives
Comparison of single and three-phase permanent magnet motor drives
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Comparison of single and three-phase permanent magnet motor drives

Santander, Eduardo ; Ben Ahmed, Hamid ; Multon, Bernard ; Soulard, Juliette ; Rakotovao, M. ; Barrere, Franck

Proceeding ICEM 98, 1998

Sem texto completo

Citações Citado por
Resultados 1 2 3 4 5 next page

Personalize Seus Resultados

  1. Editar

Refine Search Results

Expandir Meus Resultados

  1.   

Mostrar Somente

  1. Recursos Online (54)
  2. Revistas revisadas por pares (26)

Data de Publicação 

De até
Refinar
  1. Antes de1996  (7)
  2. 1996Até2002  (11)
  3. 2003Até2009  (29)
  4. 2010Até2016  (25)
  5. Após 2016  (15)
  6. Mais opções open sub menu

Idioma 

  1. Inglês  (78)
  2. Alemão  (6)
  3. Espanhol  (2)
  4. Francês  (1)
  5. Mais opções open sub menu

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

Buscando em bases de dados remotas. Favor aguardar.