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1
Measurement of small forces with superconducting magnetic bearings
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Measurement of small forces with superconducting magnetic bearings

Worden, P.W.

Precision engineering, 1982-01, Vol.4 (3), p.139-144 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Inc

Texto completo disponível

2
An optical characterization of defect levels induced by MBE growth of GaAs
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An optical characterization of defect levels induced by MBE growth of GaAs

Contour, J. P. ; Neu, G. ; Leroux, M. ; Chaix, C. ; Levesque, B. ; Etienne, P.

Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures, 1983-07, Vol.1 (3), p.811-815

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3
Instabilities of (110) III–V compounds grown by molecular beam epitaxy
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Instabilities of (110) III–V compounds grown by molecular beam epitaxy

Wang, W. I.

Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures, 1983-07, Vol.1 (3), p.630-636

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4
Cleaning chemistry of GaAs(100) and InSb(100) substrates for molecular beam epitaxy
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Cleaning chemistry of GaAs(100) and InSb(100) substrates for molecular beam epitaxy

Vasquez, R. P. ; Lewis, B. F. ; Grunthaner, F. J.

Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures, 1983-07, Vol.1 (3), p.791-794

Legacy CDMS

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5
Oxygen and hydrogen adsorption on GaAs(110)
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Oxygen and hydrogen adsorption on GaAs(110)

Bartels, F. ; Surkamp, L. ; Clemens, H. J. ; Mönch, W.

Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures, 1983-07, Vol.1 (3), p.756-762

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6
Investigation of localized annealing by electron beams
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Investigation of localized annealing by electron beams

Sun, H. T. ; McMahon, R. A. ; Ahmed, H.

Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures, 1983-07, Vol.1 (3), p.827-831

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7
Elevated temperature low energy ion cleaning of GaAs
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Elevated temperature low energy ion cleaning of GaAs

Oelhafen, P. ; Freeouf, J. L. ; Pettit, G. D. ; Woodall, J. M.

Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures, 1983-07, Vol.1 (3), p.787-790

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8
Analysis of tool temperature fluctuation in interrupted cutting
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Analysis of tool temperature fluctuation in interrupted cutting

Chakraverti, G. ; Pandey, P.C. ; Mehta, N.K.

Precision engineering, 1984-01, Vol.6 (2), p.99-105 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: Elsevier Inc

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9
Precision internal threading of stainless steel
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Artigo
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Precision internal threading of stainless steel

Saotome, T. ; Yokoi, F. ; Kumabe, J.

Precision engineering, 1984-01, Vol.6 (2), p.73-78 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: Elsevier Inc

Texto completo disponível

10
Reduction of arsenic oxide contamination in molecular beam epitaxy vacuum chambers
Material Type:
Artigo
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Reduction of arsenic oxide contamination in molecular beam epitaxy vacuum chambers

Stall, R. A. ; Swaminathan, V. ; Schumaker, N.

Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures, 1984-04, Vol.2 (2), p.148-150

New York, NY: American Institute of Physics

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