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1
BEOL-Compatible Superlattice FEFET Analog Synapse With Improved Linearity and Symmetry of Weight Update
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BEOL-Compatible Superlattice FEFET Analog Synapse With Improved Linearity and Symmetry of Weight Update

Aabrar, Khandker Akif ; Kirtania, Sharadindu Gopal ; Liang, Fu-Xiang ; Gomez, Jorge ; Jose, Matthew San ; Luo, Yandong ; Ye, Huacheng ; Dutta, Sourav ; Ravikumar, Priyankka G. ; Ravindran, Prasanna Venkatesan ; Khan, Asif Islam ; Yu, Shimeng ; Datta, Suman

IEEE transactions on electron devices, 2022-04, Vol.69 (4), p.2094-2100 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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2
Capacitance Modeling in Dual Field-Plate Power GaN HEMT for Accurate Switching Behavior
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Capacitance Modeling in Dual Field-Plate Power GaN HEMT for Accurate Switching Behavior

Aamir Ahsan, Sheikh ; Ghosh, Sudip ; Sharma, Khushboo ; Dasgupta, Avirup ; Khandelwal, Sourabh ; Chauhan, Yogesh Singh

IEEE transactions on electron devices, 2016-02, Vol.63 (2), p.565-572 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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3
A surface-potential-based high-voltage compact LDMOS transistor model
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A surface-potential-based high-voltage compact LDMOS transistor model

Aarts, A. ; D'Halleweyn, N. ; van Langevelde, R.

IEEE transactions on electron devices, 2005-05, Vol.52 (5), p.999-1007 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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4
Compact modeling of high-voltage LDMOS devices including quasi-saturation
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Compact modeling of high-voltage LDMOS devices including quasi-saturation

Aarts, A.C.T. ; Kloosterman, W.J.

IEEE transactions on electron devices, 2006-04, Vol.53 (4), p.897-902 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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5
A PSP-Based Small-Signal MOSFET Model for Both Quasi-Static and Nonquasi-Static Operations
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A PSP-Based Small-Signal MOSFET Model for Both Quasi-Static and Nonquasi-Static Operations

Aarts, A.C.T. ; Smit, G.D.J. ; Scholten, A.J. ; Klaassen, D.B.M.

IEEE transactions on electron devices, 2008-06, Vol.55 (6), p.1424-1432 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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6
New fundamental insights into capacitance modeling of laterally nonuniform MOS devices
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New fundamental insights into capacitance modeling of laterally nonuniform MOS devices

Aarts, A.C.T. ; van der Hout, R. ; Paasschens, J.C.J. ; Scholten, A.J. ; Willemsen, M.B. ; Klaassen, D.B.M.

IEEE transactions on electron devices, 2006-02, Vol.53 (2), p.270-278 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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7
Simple model for quantum-dot semiconductor optical amplifiers using artificial neural networks
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Simple model for quantum-dot semiconductor optical amplifiers using artificial neural networks

Ababneh, J.I. ; Qasaimeh, O.

IEEE transactions on electron devices, 2006-07, Vol.53 (7), p.1543-1550 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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8
Long-term bias temperature reliability of P+ polysilicon gated FET devices
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Long-term bias temperature reliability of P+ polysilicon gated FET devices

ABADEER, W. W ; TONTI, W. R ; HÄNSCH, W. E ; SCHWALKE, U

IEEE transactions on electron devices, 1995-02, Vol.42 (2), p.360-362 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: Institute of Electrical and Electronics Engineers

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9
A theoretical explanation of the carrier lifetime as a function of the injection level in gold-doped silicon
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A theoretical explanation of the carrier lifetime as a function of the injection level in gold-doped silicon

Abbas, C.C.

IEEE transactions on electron devices, 1984-01, Vol.31 (10), p.1428-1432 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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10
A Partially Pixel-Parallel DROIC for MWIR Imagers With Columnwise Residue Quantization
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A Partially Pixel-Parallel DROIC for MWIR Imagers With Columnwise Residue Quantization

Abbasi, Shahbaz ; Shafique, Atia ; Ceylan, Omer ; Yazici, Melik ; Gurbuz, Yasar

IEEE transactions on electron devices, 2018-11, Vol.65 (11), p.4916-4923 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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