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Production and trapping of hydrogenlike and bare uranium ions in an electron beam ion trap
Production and trapping of hydrogenlike and bare uranium ions in an electron beam ion trap
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Production and trapping of hydrogenlike and bare uranium ions in an electron beam ion trap

Marrs, RE ; Elliott, SR ; Knapp, DA

Physical review letters, 1994-06, Vol.72 (26), p.4082-4085 [Periódico revisado por pares]

United States

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2
Passive Q-switching of an erbium-doped glass laser by using a Co{sup 2+} : ZnSe crystal
Passive Q-switching of an erbium-doped glass laser by using a Co{sup 2+} : ZnSe crystal
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Passive Q-switching of an erbium-doped glass laser by using a Co{sup 2+} : ZnSe crystal

Il'ichev, N N ; Pashinin, P P ; Shapkin, P V ; Nasibov, A S

Quantum electronics (Woodbury, N.Y.), 2007-10, Vol.37 (10) [Periódico revisado por pares]

United States

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3
Vacuum arc ion charge-state distributions
Vacuum arc ion charge-state distributions
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Vacuum arc ion charge-state distributions

Brown, I.G. ; Godechot, X.

IEEE transactions on plasma science, 1991-10, Vol.19 (5), p.713-717 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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4
Photoemission from thin-film lanthanum hexaboride
Photoemission from thin-film lanthanum hexaboride
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Photoemission from thin-film lanthanum hexaboride

MAY, P. G ; PETKIE, R. R ; HARPER, J. M. E ; YEE, D. S

Applied physics letters, 1990-10, Vol.57 (15), p.1584-1585 [Periódico revisado por pares]

Melville, NY: American Institute of Physics

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5
Fast Ion Bombardment of Ices and its Astrophysical Implications
Fast Ion Bombardment of Ices and its Astrophysical Implications
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Fast Ion Bombardment of Ices and its Astrophysical Implications

Brown, W. L. ; Lanzerotti, L. J. ; Johnson, R. E.

Science (American Association for the Advancement of Science), 1982-11, Vol.218 (4572), p.525-531 [Periódico revisado por pares]

United States: The American Association for the Advancement of Science

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6
Variation in SEU sensitivity of dose-imprinted CMOS SRAMs
Variation in SEU sensitivity of dose-imprinted CMOS SRAMs
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Variation in SEU sensitivity of dose-imprinted CMOS SRAMs

Stassinopoulos, E.G. ; Brucker, G.J. ; Van Gunten, O. ; Kim, H.S.

IEEE Transactions on Nuclear Science (Institute of Electrical and Electronics Engineers); (USA), 1989-12, Vol.36 (6), p.2330-2338 [Periódico revisado por pares]

Legacy CDMS: IEEE

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7
Grid-controlled extraction of pulsed ion beams
Grid-controlled extraction of pulsed ion beams
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Grid-controlled extraction of pulsed ion beams

HUMPHRIES, S. JR ; BURKHART, C ; COFFEY, S ; COOPER, G ; LEN, L. K ; SAVAGE, M ; WOODALL, D. M ; RUTKOWSKI, H ; OONA, H ; SHURTER, R

J. Appl. Phys.; (United States), 1986-03, Vol.59 (6), p.1790-1798 [Periódico revisado por pares]

Woodbury, NY: American Institute of Physics

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8
Spectra from multiphoton electron detachment of H sup minus
Spectra from multiphoton electron detachment of H sup minus
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Spectra from multiphoton electron detachment of H sup minus

Smith, W.W. ; Tang, C.Y. ; Quick, C.R. ; Bryant, H.C. ; Harris, P.G. ; Mohagheghi, A.H. ; Donahue, J.B. ; Reeder, R.A. ; Sharifian, H. ; Stewart, J.E. ; Toutounchi, H. ; Cohen, S. ; Altman, T.C. ; Risolve, D.C.

Journal of the Optical Society of America. B, Optical physics, 1991-01, Vol.8:1 [Periódico revisado por pares]

United States

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9
Production of atomic or molecular nitrogen ion beams using a multicusp and a microwave ion source
Production of atomic or molecular nitrogen ion beams using a multicusp and a microwave ion source
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Production of atomic or molecular nitrogen ion beams using a multicusp and a microwave ion source

WALTHER, S. R ; LEUNG, K. N ; KUNKEL, W. B

J. Appl. Phys.; (United States), 1988-06, Vol.63 (12), p.5678-5682 [Periódico revisado por pares]

Woodbury, NY: American Institute of Physics

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10
Photodissociation of CO sup minus sub 3 : Product kinetic energy measurements as a probe of excited state potential surfaces and dissociation dynamics
Photodissociation of CO sup minus sub 3 : Product kinetic energy measurements as a probe of excited state potential surfaces and dissociation dynamics
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Photodissociation of CO sup minus sub 3 : Product kinetic energy measurements as a probe of excited state potential surfaces and dissociation dynamics

Snodgrass, J.T. ; Roehl, C.M. ; van Koppen, P.A.M. ; Palke, W.E. ; Bowers, M.T.

The Journal of chemical physics, 1990-05, Vol.92:10 [Periódico revisado por pares]

United States

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