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Refinado por: autor: Páez Carreño, M remover Pereyra, I remover assunto: Semicondutores remover
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X-Ray Reflectivity of Amorphous Multi Layers Interface Modeling
X-Ray Reflectivity of Amorphous Multi Layers Interface Modeling
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Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

X-Ray Reflectivity of Amorphous Multi Layers Interface Modeling

Márcia Carvalho de Abreu Fantini P. V SANTOS; Inés Pereyra 1947-; Marcelo Nelson Páez Carreño 1962-; Brazilian School on Semiconductor Physics Cingapura 1992 5th

Cingapura 1992

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  1. Santos, P
  2. Pereyra, I
  3. Páez Carreño, M
  4. Fantini, M
  5. Brazilian School on Semiconductor Physics

Neste Assunto:

  1. Difração Por Raios X
  2. Semicondutores
  3. Físico-Química
  4. Semicondutores

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