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Measurement and analysis of photoluminescence in GaN
Measurement and analysis of photoluminescence in GaN
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Measurement and analysis of photoluminescence in GaN

Reshchikov, Michael A.

Journal of applied physics, 2021-03, Vol.129 (12) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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2
Multi-junction solar cells paving the way for super high-efficiency
Multi-junction solar cells paving the way for super high-efficiency
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Multi-junction solar cells paving the way for super high-efficiency

Yamaguchi, Masafumi ; Dimroth, Frank ; Geisz, John F. ; Ekins-Daukes, Nicholas J.

Journal of applied physics, 2021-06, Vol.129 (24) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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3
Thermal conductivity of 4H-SiC single crystals
Thermal conductivity of 4H-SiC single crystals
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Thermal conductivity of 4H-SiC single crystals

Wei, Rusheng ; Song, Sheng ; Yang, Kun ; Cui, Yingxin ; Peng, Yan ; Chen, Xiufang ; Hu, Xiaobo ; Xu, Xiangang

Journal of applied physics, 2013-02, Vol.113 (5) [Periódico revisado por pares]

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4
A comparative analysis of deep level emission in ZnO layers deposited by various methods
A comparative analysis of deep level emission in ZnO layers deposited by various methods
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

A comparative analysis of deep level emission in ZnO layers deposited by various methods

Ahn, Cheol Hyoun ; Kim, Young Yi ; Kim, Dong Chan ; Mohanta, Sanjay Kumar ; Cho, Hyung Koun

Journal of applied physics, 2009-01, Vol.105 (1), p.013502-013502-5 [Periódico revisado por pares]

United States: American Institute of Physics

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5
GaN based nanorods for solid state lighting
GaN based nanorods for solid state lighting
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GaN based nanorods for solid state lighting

Li, Shunfeng ; Waag, Andreas

Journal of applied physics, 2012-04, Vol.111 (7), p.071101-071101-23 [Periódico revisado por pares]

United States: American Institute of Physics

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6
Collision dominated, ballistic, and viscous regimes of terahertz plasmonic detection by graphene
Collision dominated, ballistic, and viscous regimes of terahertz plasmonic detection by graphene
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Collision dominated, ballistic, and viscous regimes of terahertz plasmonic detection by graphene

Zhang, Yuhui ; Shur, Michael S.

Journal of applied physics, 2021-02, Vol.129 (5) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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7
Strain-driven quantum dot self-assembly by molecular beam epitaxy
Strain-driven quantum dot self-assembly by molecular beam epitaxy
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Strain-driven quantum dot self-assembly by molecular beam epitaxy

Sautter, Kathryn E. ; Vallejo, Kevin D. ; Simmonds, Paul J.

Journal of applied physics, 2020-07, Vol.128 (3) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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8
Edge effects on the electronic properties of phosphorene nanoribbons
Edge effects on the electronic properties of phosphorene nanoribbons
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Edge effects on the electronic properties of phosphorene nanoribbons

Peng, Xihong ; Copple, Andrew ; Wei, Qun

Journal of applied physics, 2014-10, Vol.116 (14) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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9
Monte Carlo simulation study of electron yields from compound semiconductor materials
Monte Carlo simulation study of electron yields from compound semiconductor materials
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Monte Carlo simulation study of electron yields from compound semiconductor materials

Hussain, A. ; Yang, L. H. ; Zou, Y. B. ; Mao, S. F. ; Da, B. ; Li, H. M. ; Ding, Z. J.

Journal of applied physics, 2020-07, Vol.128 (1) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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10
Tutorial: Junction spectroscopy techniques and deep-level defects in semiconductors
Tutorial: Junction spectroscopy techniques and deep-level defects in semiconductors
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Tutorial: Junction spectroscopy techniques and deep-level defects in semiconductors

Peaker, A. R. ; Markevich, V. P. ; Coutinho, J.

Journal of applied physics, 2018-04, Vol.123 (16) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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