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Reliability studies of electronic components for the operation at cryogenic temperature
Reliability studies of electronic components for the operation at cryogenic temperature
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Reliability studies of electronic components for the operation at cryogenic temperature

Poonthottathil, N ; Krennrich, F ; Eisch, J ; Weinstein, A ; Bond, L J ; Barnard, D ; Zhang, Z ; Koester, L

arXiv.org, 2019-11

Ithaca: Cornell University Library, arXiv.org

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