Result Number | Material Type | Add to My Shelf Action | Record Details and Options |
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Material Type: Artigo
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Doping of epitaxial siliconHurle, D.T.J. ; Logan, R.M. ; Farrow, R.F.C.Journal of crystal growth, 1972, Vol.12 (1), p.73-75 [Periódico revisado por pares]Elsevier B.VTexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Differentials in the Eilenberg-Moore spectral sequenceKraines, David ; Schochet, ClaudeJournal of pure and applied algebra, 1972, Vol.2 (2), p.131-148 [Periódico revisado por pares]Elsevier B.VTexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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X-ray determination of the Poisson's ratio in thin filmsBasile, Giuseppe ; Martini, Giovanni ; Zosi, GianfrancoThin solid films, 1972-01, Vol.11 (2), p.441-443 [Periódico revisado por pares]Elsevier B.VTexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Isopaustic glassesField, M.B.Ultrasonics, 1972-01, Vol.10 (5), p.231-234 [Periódico revisado por pares]Elsevier B.VTexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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The Eilenberg-Moore spectral sequence and strongly homotopy multiplicative mapsMunkholm, Hans J.Journal of pure and applied algebra, 1974, Vol.5 (1), p.1-50 [Periódico revisado por pares]Elsevier B.VTexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Chemiluminescence in the thermal decomposition of dicumyl peroxideLazár, M. ; Matisová-Rychlá, L. ; Ďurdovič, V. ; Rychlý, J.Journal of luminescence, 1974, Vol.9 (3), p.240-248 [Periódico revisado por pares]Elsevier B.VTexto completo disponível |
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Material Type: Capítulo de Livro
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17 K(π, n)'s and Postnikov systemsPure and Applied Mathematics, 1975, Vol.64, p.157-167Elsevier B.VTexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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On-line wear monitoring by surface activationAskouri, N.A. ; Chen, N.S. ; Ettinger, K.V. ; Fremlin, J.H. ; Nowotny, R. ; Wills, G.B.The International journal of applied radiation and isotopes, 1975-02, Vol.26 (2), p.61-64Elsevier B.VTexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Electron microscope and electron diffraction investigations of boron thin-film structurePostnikov, V.S. ; Tavadze, F.N. ; Ievlev, V.M. ; Zolotukhin, I.V.Journal of the less-common metals, 1976-01, Vol.47, p.255-258Elsevier B.VTexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Electron microscope investigation of the structure of epitaxial single-crystal interfaces of various orientationsPostnikov, V.S. ; Ijevlev, V.M. ; Solovjev, K.S.Thin solid films, 1976-01, Vol.32 (1), p.173-176 [Periódico revisado por pares]Elsevier B.VTexto completo disponível |