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0.36-W cw diffraction-limited-beam operation from phase-locked arrays of antiguides
0.36-W cw diffraction-limited-beam operation from phase-locked arrays of antiguides
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

0.36-W cw diffraction-limited-beam operation from phase-locked arrays of antiguides

Mawst, Luke J ; Botez, Dan ; Anderson, Eric R ; Jansen, Michael ; Ou, Szutsun S ; Sergant, Moshe ; Peterson, Gary L ; Roth, Thomas J ; Rozenbergs, John

SPIE 1991

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2
1-D particle-in-cell simulations of electron acoustic solitary structures in an electron beam-plasma
1-D particle-in-cell simulations of electron acoustic solitary structures in an electron beam-plasma
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

1-D particle-in-cell simulations of electron acoustic solitary structures in an electron beam-plasma

Abid, A. A. ; Lu, Quanming ; Qureshi, M. N. S. ; Gao, X. L. ; Chen, Huayue ; Shah, K. H. ; Wang, Shui

AIP advances, 2019-02, Vol.9 (2), p.025029-025029-6 [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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3
1. THE MEANINGS OF NOSTALGIA: GENEALOGY AND CRITIQUE
1. THE MEANINGS OF NOSTALGIA: GENEALOGY AND CRITIQUE
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

1. THE MEANINGS OF NOSTALGIA: GENEALOGY AND CRITIQUE

BECKER, TOBIAS

History and theory :Studies in the philosophy of history, 2018-06, Vol.57 (2), p.234-250 [Periódico revisado por pares]

Oxford: Blackwell Publishing Ltd

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4
10-Gb/s Wavelength and Pulse Format Conversion Using Four-Wave Mixing in a GaAs Waveguide
10-Gb/s Wavelength and Pulse Format Conversion Using Four-Wave Mixing in a GaAs Waveguide
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10-Gb/s Wavelength and Pulse Format Conversion Using Four-Wave Mixing in a GaAs Waveguide

Apiratikul, Paveen ; Astar, W ; Carter, Gary M ; Murphy, Thomas E

IEEE photonics technology letters, 2010-06, Vol.22 (12), p.872-874

New York: IEEE

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5
10-watt cw diode laser bar efficiently fiber-coupled to a 381 um diameter fiber-optic connector
10-watt cw diode laser bar efficiently fiber-coupled to a 381 um diameter fiber-optic connector
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10-watt cw diode laser bar efficiently fiber-coupled to a 381 um diameter fiber-optic connector

Willing, Steven L ; Worland, D. Philip ; Harnagel, Gary L ; Endriz, John G

SPIE 1991

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6
10 Years of IoT Malware: A Feature-Based Taxonomy
10 Years of IoT Malware: A Feature-Based Taxonomy
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10 Years of IoT Malware: A Feature-Based Taxonomy

Vignau, Benjamin ; Khoury, Raphael ; Halle, Sylvain

2019 IEEE 19th International Conference on Software Quality, Reliability and Security Companion (QRS-C), 2019, p.458-465

IEEE

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7
100-picometer interferometry for EUVL
100-picometer interferometry for EUVL
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

100-picometer interferometry for EUVL

Sommargren, Gary E ; Phillion, D. W ; Johnson, Michael A ; Nguyen, Nhan Q ; Barty, Anton ; Snell, Franklyn J ; Dillon, Daren R ; Bradsher, Lloyd S

United States: SPIE 2002

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8
{10−12} twinning behavior in magnesium bicrystal
{10−12} twinning behavior in magnesium bicrystal
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

{10−12} twinning behavior in magnesium bicrystal

Yang, Hong ; Jiang, Bin ; He, Junjie ; Jiang, Zhongtao ; Zhang, Jianyue ; Pan, Fusheng

Journal of alloys and compounds, 2017-11, Vol.725, p.1282-1287 [Periódico revisado por pares]

Lausanne: Elsevier B.V

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9
1024 X 1024 pixel high-frame-rate digital CCD cameras
1024 X 1024 pixel high-frame-rate digital CCD cameras
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

1024 X 1024 pixel high-frame-rate digital CCD cameras

Hughes, Gary W ; Levine, Peter A ; McCaffrey, Nathaniel J ; Villani, Thomas S ; O'Mara, K ; Sjursen, W ; Pantuso, Francis P ; Ambrose, Joseph G ; King, B

SPIE 1997

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10
108-GHz GaInAs/InP p-i-n photodiodes with integrated bias tees and matched resistors
108-GHz GaInAs/InP p-i-n photodiodes with integrated bias tees and matched resistors
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

108-GHz GaInAs/InP p-i-n photodiodes with integrated bias tees and matched resistors

Yih-Guei Wey ; Giboney, K.S. ; Bowers, J.E. ; Rodwell, M.J.W. ; Silvestre, P. ; Thiagarajan, P. ; Robinson, G.Y.

IEEE photonics technology letters, 1993-11, Vol.5 (11), p.1310-1312

New York, NY: IEEE

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