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Valence band offset of β-Ga 2 O 3 /wurtzite GaN heterostructure measured by X-ray photoelectron spectroscopy

Wei, Wei ; Qin, Zhixin ; Fan, Shunfei ; Li, Zhiwei ; Shi, Kai ; Zhu, Qinsheng ; Zhang, Guoyi

Nanoscale Research Letters, 2012, Vol.7(1), pp.1-5 [Periódico revisado por pares]

Springer Science & Business Media B.V.

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2
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Valence band offset of β-Ga 2 O 3 /wurtzite GaN heterostructure measured by X-ray photoelectron spectroscopy

Wei, Wei ; Qin, Zhixin ; Fan, Shunfei ; Li, Zhiwei ; Shi, Kai ; Zhu, Qinsheng ; Zhang, Guoyi

Nanoscale Research Letters, 2012, Vol.7(1), p.562-562 [Periódico revisado por pares]

U.S. National Library of Medicine (NIH/NLM)

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Valence band offset of [beta][-Ga.sub.2]O.sub.3/wurtzite GaN heterostructure measured by X-ray photoelectron spectroscopy.(Report)

Wei, Wei ; Qin, Zhixin ; Fan, Shunfei ; Li, Zhiwei ; Shi, Kai ; Zhu, Qinsheng ; Zhang, Guoyi

Nanoscale Research Letters, 2012, Vol.7(1), p.1(5) [Periódico revisado por pares]

Cengage Learning, Inc.

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Valence band offset of β-Ga2O3/wurtzite GaN heterostructure measured by X-ray photoelectron spectroscopy

Wei, Wei ; Qin, Zhixin ; Fan, Shunfei ; Li, Zhiwei ; Shi, Kai ; Zhu, Qinsheng ; Zhang, Guoyi

Nanoscale research letters, 10 October 2012, Vol.7(1), pp.562 [Periódico revisado por pares]

MEDLINE/PubMed (U.S. National Library of Medicine)

Texto completo disponível

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