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Artigo
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Status of the BNL muon (g-2) experiment.(Special Issue on Selected Papers CPEM'98)

Prigl, Ralf ; Bunce, G. ; Brown, H. N. ; Carey, R. M. ; Cushman, P. ; Danby, G. T. ; Debevec, P. T. ; Deng, H. ; Deninger, W. ; Dhawan, S. K. ; Druzhinin, V. P. ; Duong, L. ; Earle, W. ; Efstathiadis, E. ; Farley, F. J. M. ; Fedotovich, G. V. ; Giron, S. ; Gray, F. ; Perdekamp, M. Grosse ; Grossmann, A. ; Haeberlen, U. ; Hare, M. ; Hazen, E. S. ; Krienen, F. ; Kronkvist, I. ; Larsen, R. ; Lee, Y. Y. ; Liu, W. ; Logashenko, I. ; Mcnabb, R. ; Meng, W. ; Mi, J. - L. ; Miller, D. ; Miller, J. P. ; Morse, W. M. ; Neumayer, P. ; Onderwater, C. J. G. ; Orlovv, Y. ; Pai, C. ; Polly, C. ; Pretz, J. ; Putlitz, G. Zu ; Redin, S. I. ; Rind, O. ; Roberts, B. L. ; Ryskulov, N. ; Sanders, R. ; Sedykh, S. ; Semertzidis, Y. K.

IEEE Transactions on Instrumentation & Measurement, April, 1999, Vol.48(2), p.182(4) [Periódico revisado por pares]

Cengage Learning, Inc.

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Artigo
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Status of the BNL muon (g-2) experiment

Prigl, R ; Brown, H.N ; Bunce, G ; Carey, R.M ; Cushman, P ; Danby, G.T ; Debevec, P.T ; Deng, H ; Deninger, W ; Dhawan, S.K ; Druzhinin, V.P ; Duong, L ; Earle, W ; Efstathiadis, E ; Farley, F.J.M ; Fedotovich, G.V ; Giron, S ; Gray, F ; Grosse Perdekamp, M ; Grossmann, A ; Haeberlen, U ; Hare, M ; Hazen, E.S ; Hertzog, D.W ; Hughes, V.W ; Iwasaki, M ; Jungmann, K ; Kawall, D ; Kawamura, M ; Khazin, B.I ; Kindem, J ; Krienen, F ; Kronkvist, I ; Larsen, R ; Lee, Y.Y ; Liu, W ; Logashenko, I ; Mcnabb, R ; Meng, W ; Mi, J.-L ; Miller, D ; Miller, J.P ; Morse, W.M ; Neumayer, P ; Onderwater, C.J.G ; Orlov, Y ; Pai, C ; Polly, C ; Pretz, J ; Zu Putlitz, G ; Redin, S.I ; Rind, O ; Roberts, B.L ; Ryskulov, N ; Sanders, R ; Sedykh, S ; Semertzidis, Y.K ; Serednyakov, S ; Shatunov, Yu.M ; Solodov, E ; Sossong, M ; Steinmetz, A ; Sulak, L.R ; Tanaka, M ; Timmermans, C ; Trofimov, A ; Urner, D ; Warburton, D ; Winn, D ; Yamamoto, A ; Zimmerman, D

IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, April 1999, Vol.48(2), pp.182-185 [Periódico revisado por pares]

IEEE Conference Publications

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