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1
Apparatus and method for sensing motion in a microelectro-mechanical system
Apparatus and method for sensing motion in a microelectro-mechanical system
Material Type:
Patente 		Adicionar ao Meu Espaço

Apparatus and method for sensing motion in a microelectro-mechanical system

Dickey, F.M. ; Holswade, S.C.

United States 1999

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2
Scanning fluorescent microthermal imaging apparatus and method
Scanning fluorescent microthermal imaging apparatus and method
Material Type:
Patente 		Adicionar ao Meu Espaço

Scanning fluorescent microthermal imaging apparatus and method

Barton, D.L. ; Tangyunyong, P.

United States 1998

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3
On-clip high frequency reliability and failure test structures
On-clip high frequency reliability and failure test structures
Material Type:
Patente 		Adicionar ao Meu Espaço

On-clip high frequency reliability and failure test structures

Snyder, Eric S ; Campbell, David V

United States 1997

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4
On-clip high frequency reliability and failure test structures
On-clip high frequency reliability and failure test structures
Material Type:
Patente 		Adicionar ao Meu Espaço

On-clip high frequency reliability and failure test structures

Snyder, E.S. ; Campbell, D.V.

United States 1997

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5
Leak test adapter for containers
Leak test adapter for containers
Material Type:
Patente 		Adicionar ao Meu Espaço

Leak test adapter for containers

Hallett, B.H. ; Hartley, M.S.

United States 1996

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6
Retractable pin dual in-line package test clip
Retractable pin dual in-line package test clip
Material Type:
Patente 		Adicionar ao Meu Espaço

Retractable pin dual in-line package test clip

Bandzuch, G.S. ; Kosslow, W.J

United States 1993

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7
Retractable pin dual in-line package test clip
Retractable pin dual in-line package test clip
Material Type:
Patente 		Adicionar ao Meu Espaço

Retractable pin dual in-line package test clip

Bandzuch, G.S ; Kosslow, W.J

No corporate text available (Country unknown/Code not available) 1993

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8
Piping inspection instrument carriage
Piping inspection instrument carriage
Material Type:
Patente 		Adicionar ao Meu Espaço

Piping inspection instrument carriage

Zollinger, W.T. ; Treanor, R.C.

United States 1993

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9
Method and system for evaluating integrity of adherence of a conductor bond to a mating surface of a substrate
Method and system for evaluating integrity of adherence of a conductor bond to a mating surface of a substrate
Material Type:
Patente 		Adicionar ao Meu Espaço

Method and system for evaluating integrity of adherence of a conductor bond to a mating surface of a substrate

Telschow, K.L. ; Siu, B.K.

United States 1996

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10
Cadmium telluride photovoltaic radiation detector
Cadmium telluride photovoltaic radiation detector
Material Type:
Patente 		Adicionar ao Meu Espaço

Cadmium telluride photovoltaic radiation detector

Agouridis, D.C. ; Fox, R.J.

United States

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