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1	Material Type: Artigo		NEAR-BAND-GAP PHOTOLUMINESCENCE FROM PSEUDOMORPHIC SI1-XGEX SINGLE LAYERS ON SILICON ROBBINS, DJ ; CANHAM, LT ; BARNETT, SJ ; PITT, AD ; CALCOTT, P Journal of applied physics, 1992-02, Vol.71 (3), p.1407-1414 [Periódico revisado por pares] WOODBURY: Amer Inst Physics Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
2	Material Type: Artigo		Observation of a many-body edge singularity in quantum-well luminescence spectra SKOLNICK, M. S ; RORISON, J. M ; NASH, K. J ; MOWBRAY, D. J ; TAPSTER, P. R ; BASS, S. J ; PITT, A. D Physical review letters, 1987-05, Vol.58 (20), p.2130-2133 [Periódico revisado por pares] Ridge, NY: American Physical Society Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
3	Material Type: Artigo		On the Sharp Markov Property for Gaussian Random Fields and Spectral Synthesis in Spaces of Bessel Potentials Pitt, Loren D. ; Robeva, Raina S. The Annals of probability, 2003-07, Vol.31 (3), p.1338-1376 [Periódico revisado por pares] Hayward, CA: Institute of Mathematical Statistics Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
4	Material Type: Artigo		Spectroscopic ellipsometry characterization of strained and relaxed Si1-xGex epitaxial layers PICKERING, C ; CARLINE, R. T ; ROBBINS, D. J ; LEONG, W. Y ; BARNETT, S. J ; PITT, A. D ; CULLIS, A. G Journal of applied physics, 1993, Vol.73 (1), p.239-250 [Periódico revisado por pares] Woodbury, NY: American Institute of Physics Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
5	Material Type: Ata de Congresso		Wind tunnel demonstration of the SAMPSON Smart Inlet Pitt, Dale M ; Dunne, James P ; White, Edward V ; Garcia, Ephrahim SPIE proceedings series, 2001, Vol.4332, p.345-356 Bellingham WA: SPIE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
6	Material Type: Artigo		Metal Organic CVD of Cobalt Thin Films Using Cobalt Tricarbonyl Nitrosyl Lane, Penelope A. ; E.Oliver, Peter ; Wright, Peter J. ; Reeves, Christopher L. ; Pitt, Anthony D. ; Cockayne, Brian Chemical vapor deposition, 1998-10, Vol.4 (5), p.183-186 [Periódico revisado por pares] Weinheim: WILEY-VCH Verlag GmbH Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
7	Material Type: Artigo		Investigation of InGaAs-InP quantum wells by optical spectroscopy Skolnick, M S ; Tapster, P R ; Bass, S J ; Pitt, A D ; Apsley, N ; Aldred, S P Semiconductor science and technology, 1986-07, Vol.1 (1), p.29-40 [Periódico revisado por pares] Bristol: IOP Publishing Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
8	Material Type: Artigo		Raman, infrared, photoluminescence and theoretical studies of the II-VI-VI ternary CdSeTe Feng, Z.C. ; Becla, P. ; Kim, L.S. ; Perkowitz, S. ; Feng, Y.P. ; Poon, H.C. ; Williams, K.P. ; Pitt, G.D. Journal of crystal growth, 1994-04, Vol.138 (1), p.239-243 [Periódico revisado por pares] Amsterdam: Elsevier B.V Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
9	$X-ray diffraction determination of a semiconductor epilayer unit cell oriented and distorted arbitrarily$ $X-ray diffraction determination of a semiconductor epilayer unit cell oriented and distorted arbitrarily$ Material Type: Artigo		X-ray diffraction determination of a semiconductor epilayer unit cell oriented and distorted arbitrarily Usher, B F ; Smith, G W ; Barnett, S J ; Keir, A M ; Pitt, A D Journal of physics. D, Applied physics, 1993-04, Vol.26 (4A), p.A181-A187 [Periódico revisado por pares] Bristol: IOP Publishing Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
10	Material Type: Artigo		Photoinduced quenching of infrared absorption nonuniformities of large diameter GaAs crystals SKOLNICK, M. S ; REED, L. J ; PITT, A. D Applied physics letters, 1984-02, Vol.44 (4), p.447-449 [Periódico revisado por pares] Melville, NY: American Institute of Physics Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por

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