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Quantum Cascade Detectors
Quantum Cascade Detectors
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Quantum Cascade Detectors

Giorgetta, F.R. ; Baumann, E. ; Graf, M. ; Quankui Yang ; Manz, C. ; Kohler, K. ; Beere, H.E. ; Ritchie, D.A. ; Linfield, E. ; Davies, A.G. ; Fedoryshyn, Y. ; Jackel, H. ; Fischer, M. ; Faist, J. ; Hofstetter, D.

IEEE journal of quantum electronics, 2009-08, Vol.45 (8), p.1039-1052 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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2
Quantum-mechanical effects in trigate SOI MOSFETs
Quantum-mechanical effects in trigate SOI MOSFETs
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Quantum-mechanical effects in trigate SOI MOSFETs

Colinge, J.-P. ; Alderman, J.C. ; Weize Xiong ; Cleavelin, C.R.

IEEE transactions on electron devices, 2006-05, Vol.53 (5), p.1131-1136 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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3
A 1.2-V 8.3-nJ CMOS Humidity Sensor for RFID Applications
A 1.2-V 8.3-nJ CMOS Humidity Sensor for RFID Applications
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A 1.2-V 8.3-nJ CMOS Humidity Sensor for RFID Applications

Zhichao Tan ; Daamen, Roel ; Humbert, Aurelie ; Ponomarev, Youri V. ; Youngcheol Chae ; Pertijs, Michiel A. P.

IEEE journal of solid-state circuits, 2013-10, Vol.48 (10), p.2469-2477 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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4
A Mechanism for Dependence of Refresh Time on Data Pattern in DRAM
A Mechanism for Dependence of Refresh Time on Data Pattern in DRAM
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A Mechanism for Dependence of Refresh Time on Data Pattern in DRAM

Lee, Myoung Jin ; Park, Kun Woo

IEEE electron device letters, 2010-02, Vol.31 (2), p.168-170 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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5
Quantum-Interference-Controlled Molecular Electronics
Quantum-Interference-Controlled Molecular Electronics
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Quantum-Interference-Controlled Molecular Electronics

Ke, San-Huang ; Yang, Weitao ; Baranger, Harold U

Nano letters, 2008-10, Vol.8 (10), p.3257-3261 [Periódico revisado por pares]

Washington, DC: American Chemical Society

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6
Low-Frequency Noise in AlSb/InAs and Related HEMTs
Low-Frequency Noise in AlSb/InAs and Related HEMTs
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Low-Frequency Noise in AlSb/InAs and Related HEMTs

Kruppa, Walter ; Boos, J. Brad ; Bennett, Brian R. ; Papanicolaou, Nicolas A. ; Park, Doewon ; Bass, Robert

IEEE transactions on electron devices, 2007-05, Vol.54 (5), p.1193-1202 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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7
A 300-GHz Fundamental Oscillator in 65-nm CMOS Technology
A 300-GHz Fundamental Oscillator in 65-nm CMOS Technology
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A 300-GHz Fundamental Oscillator in 65-nm CMOS Technology

Razavi, Behzad

IEEE journal of solid-state circuits, 2011-04, Vol.46 (4), p.894-903 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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8
Quantum Dot−Fluorescent Protein Pairs as Novel Fluorescence Resonance Energy Transfer Probes
Quantum Dot−Fluorescent Protein Pairs as Novel Fluorescence Resonance Energy Transfer Probes
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Quantum Dot−Fluorescent Protein Pairs as Novel Fluorescence Resonance Energy Transfer Probes

Dennis, Allison M ; Bao, Gang

Nano letters, 2008-05, Vol.8 (5), p.1439-1445 [Periódico revisado por pares]

Washington, DC: American Chemical Society

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9
Low-Frequency Noise Phenomena in Switched MOSFETs
Low-Frequency Noise Phenomena in Switched MOSFETs
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Low-Frequency Noise Phenomena in Switched MOSFETs

van der Wel, A.P. ; Klumperink, E.A.M. ; Kolhatkar, J.S. ; Hoekstra, E. ; Snoeij, M.S. ; Salm, C. ; Wallinga, H. ; Nauta, B.

IEEE journal of solid-state circuits, 2007-03, Vol.42 (3), p.540-550 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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10
A MEMS AC current sensor for residential and commercial electricity end-use monitoring
A MEMS AC current sensor for residential and commercial electricity end-use monitoring
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A MEMS AC current sensor for residential and commercial electricity end-use monitoring

Leland, E S ; Wright, P K ; White, R M

Journal of micromechanics and microengineering, 2009-09, Vol.19 (9), p.094018 [Periódico revisado por pares]

Bristol: IOP Publishing

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