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Synthesis and characterization of nanostructured materials based on Fe50Co50 and Fe75Co25
Synthesis and characterization of nanostructured materials based on Fe50Co50 and Fe75Co25
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Synthesis and characterization of nanostructured materials based on Fe50Co50 and Fe75Co25

Caamaño De Ávila, Zulia Isabel ; Consuegra Peña, María Angélica ; Baró, María Dolores ; Suriñach, Santiago

C T & F : ciencia, tecnología y futuro, 2015-12, Vol.6 (2), p.33-44 [Periódico revisado por pares]

Instituto Colombiano del Petróleo (ICP) - ECOPETROL S.A

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A 1.2-V 8.3-nJ CMOS Humidity Sensor for RFID Applications
A 1.2-V 8.3-nJ CMOS Humidity Sensor for RFID Applications
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A 1.2-V 8.3-nJ CMOS Humidity Sensor for RFID Applications

Zhichao Tan ; Daamen, Roel ; Humbert, Aurelie ; Ponomarev, Youri V. ; Youngcheol Chae ; Pertijs, Michiel A. P.

IEEE journal of solid-state circuits, 2013-10, Vol.48 (10), p.2469-2477 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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100 kW, 10 kHz Medium-Frequency Transformer Design Optimization and Experimental Verification
100 kW, 10 kHz Medium-Frequency Transformer Design Optimization and Experimental Verification
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100 kW, 10 kHz Medium-Frequency Transformer Design Optimization and Experimental Verification

Mogorovic, Marko ; Dujic, Drazen

IEEE transactions on power electronics, 2019-02, Vol.34 (2), p.1696-1708 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Indium oxide-a transparent, wide-band gap semiconductor for (opto)electronic applications
Indium oxide-a transparent, wide-band gap semiconductor for (opto)electronic applications
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Indium oxide-a transparent, wide-band gap semiconductor for (opto)electronic applications

Bierwagen, Oliver

Semiconductor science and technology, 2015-02, Vol.30 (2), p.24001 [Periódico revisado por pares]

IOP Publishing

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A 300-GHz Fundamental Oscillator in 65-nm CMOS Technology
A 300-GHz Fundamental Oscillator in 65-nm CMOS Technology
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A 300-GHz Fundamental Oscillator in 65-nm CMOS Technology

Razavi, Behzad

IEEE journal of solid-state circuits, 2011-04, Vol.46 (4), p.894-903 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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A Cascode Feedback Bias Technique for Linear CMOS Power Amplifiers in a Multistage Cascode Topology
A Cascode Feedback Bias Technique for Linear CMOS Power Amplifiers in a Multistage Cascode Topology
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A Cascode Feedback Bias Technique for Linear CMOS Power Amplifiers in a Multistage Cascode Topology

Hamhee Jeon ; Kun-Seok Lee ; Ockgoo Lee ; Kyu Hwan An ; Youngchang Yoon ; Hyungwook Kim ; Kobayashi, K. W. ; Chang-Ho Lee ; Kenney, J. S.

IEEE transactions on microwave theory and techniques, 2013-02, Vol.61 (2), p.890-901 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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PDMS residues-free micro/macrostructures on flexible substrates
PDMS residues-free micro/macrostructures on flexible substrates
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PDMS residues-free micro/macrostructures on flexible substrates

Dahiya, Ravinder ; Gottardi, Gloria ; Laidani, Nadhira

Microelectronic engineering, 2015-03, Vol.136, p.57-62 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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Quantum Cascade Detectors
Quantum Cascade Detectors
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Quantum Cascade Detectors

Giorgetta, F.R. ; Baumann, E. ; Graf, M. ; Quankui Yang ; Manz, C. ; Kohler, K. ; Beere, H.E. ; Ritchie, D.A. ; Linfield, E. ; Davies, A.G. ; Fedoryshyn, Y. ; Jackel, H. ; Fischer, M. ; Faist, J. ; Hofstetter, D.

IEEE journal of quantum electronics, 2009-08, Vol.45 (8), p.1039-1052 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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Room-temperature gas sensing of ZnO-based gas sensor: A review
Room-temperature gas sensing of ZnO-based gas sensor: A review
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Room-temperature gas sensing of ZnO-based gas sensor: A review

Zhu, Ling ; Zeng, Wen

Sensors and actuators. A. Physical., 2017-11, Vol.267, p.242-261 [Periódico revisado por pares]

Lausanne: Elsevier B.V

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Human-Visual-System-Inspired Underwater Image Quality Measures
Human-Visual-System-Inspired Underwater Image Quality Measures
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Human-Visual-System-Inspired Underwater Image Quality Measures

Panetta, Karen ; Chen Gao ; Agaian, Sos

IEEE journal of oceanic engineering, 2016-07, Vol.41 (3), p.541-551 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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