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Accurate formulas for interaction force and energy in frequency modulation force spectroscopy
Accurate formulas for interaction force and energy in frequency modulation force spectroscopy
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Accurate formulas for interaction force and energy in frequency modulation force spectroscopy

Sader, John E. ; Jarvis, Suzanne P.

Applied physics letters, 2004-03, Vol.84 (10), p.1801-1803 [Periódico revisado por pares]

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2
Effect of surface stress on the stiffness of cantilever plates
Effect of surface stress on the stiffness of cantilever plates
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Effect of surface stress on the stiffness of cantilever plates

Lachut, Michael J ; Sader, John E

Physical review letters, 2007-11, Vol.99 (20), p.206102-206102, Article 206102 [Periódico revisado por pares]

United States

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3
Vibrational coupling in plasmonic molecules
Vibrational coupling in plasmonic molecules
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Vibrational coupling in plasmonic molecules

Yi, Chongyue ; Dongare, Pratiksha D. ; Su, Man-Nung ; Wang, Wenxiao ; Chakraborty, Debadi ; Wen, Fangfang ; Chang, Wei-Shun ; Sader, John E. ; Nordlander, Peter ; Halas, Naomi J. ; Link, Stephan

Proceedings of the National Academy of Sciences - PNAS, 2017-10, Vol.114 (44), p.11621-11626 [Periódico revisado por pares]

United States: National Academy of Sciences

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4
Stress-induced variations in the stiffness of micro- and nanocantilever beams
Stress-induced variations in the stiffness of micro- and nanocantilever beams
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Stress-induced variations in the stiffness of micro- and nanocantilever beams

Karabalin, R B ; Villanueva, L G ; Matheny, M H ; Sader, J E ; Roukes, M L

Physical review letters, 2012-06, Vol.108 (23), p.236101-236101, Article 236101 [Periódico revisado por pares]

United States

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5
Effect of surface stress on the stiffness of thin elastic plates and beams
Effect of surface stress on the stiffness of thin elastic plates and beams
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Effect of surface stress on the stiffness of thin elastic plates and beams

Lachut, Michael J. ; Sader, John E.

Physical review. B, Condensed matter and materials physics, 2012-02, Vol.85 (8), Article 085440 [Periódico revisado por pares]

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6
Accurate formula for conversion of tunneling current in dynamic atomic force spectroscopy
Accurate formula for conversion of tunneling current in dynamic atomic force spectroscopy
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Accurate formula for conversion of tunneling current in dynamic atomic force spectroscopy

Sader, John E ; Sugimoto, Yoshiaki

Applied physics letters, 2010-07, Vol.97 (4), p.043502-043502-3 [Periódico revisado por pares]

American Institute of Physics

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7
Artifact-free dynamic atomic force microscopy reveals monotonic dissipation for a simple confined liquid
Artifact-free dynamic atomic force microscopy reveals monotonic dissipation for a simple confined liquid
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Artifact-free dynamic atomic force microscopy reveals monotonic dissipation for a simple confined liquid

Kaggwa, G B ; Kilpatrick, J I ; Sader, J E ; Jarvis, S P

Applied physics letters, 2008-07, Vol.93 (1), p.011909-011909-3 [Periódico revisado por pares]

American Institute of Physics

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8
Viscoelastic flows in simple liquids generated by vibrating nanostructures
Viscoelastic flows in simple liquids generated by vibrating nanostructures
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Viscoelastic flows in simple liquids generated by vibrating nanostructures

Pelton, Matthew ; Chakraborty, Debadi ; Malachosky, Edward ; Guyot-Sionnest, Philippe ; Sader, John E

Physical review letters, 2013-12, Vol.111 (24), p.244502-244502, Article 244502 [Periódico revisado por pares]

United States

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9
Mechanical properties of ZnO nanowires
Mechanical properties of ZnO nanowires
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Mechanical properties of ZnO nanowires

Wen, Baomei ; Sader, John E ; Boland, John J

Physical review letters, 2008-10, Vol.101 (17), p.175502-175502, Article 175502 [Periódico revisado por pares]

United States

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10
Quantitative force measurements in liquid using frequency modulation atomic force microscopy
Quantitative force measurements in liquid using frequency modulation atomic force microscopy
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Quantitative force measurements in liquid using frequency modulation atomic force microscopy

Uchihashi, Takayuki ; Higgins, Michael J. ; Yasuda, Satoshi ; Jarvis, Suzanne P. ; Akita, Seiji ; Nakayama, Yoshikazu ; Sader, John E.

Applied physics letters, 2004-10, Vol.85 (16), p.3575-3577 [Periódico revisado por pares]

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