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Thin Film Materials: Stress, Defect Formation and Surface Evolution
Thin Film Materials: Stress, Defect Formation and Surface Evolution
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Livro
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Thin Film Materials: Stress, Defect Formation and Surface Evolution

L. B. Freund Ben Freund; S Suresh; Subra Suresh S. Suresh

Cambridge Cambridge University Press 2004

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

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Dissertação de Mestrado
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Estudo do comportamento elétrico de dispositivos de potência a partir da otimização dos parâmetros de processo de deposição do filme SIPOS obtido por LPCVD

Alves, Marcelo Faustino

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Escola Politécnica 2003-02-26

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

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New developments in porous silicon, relation with other nanostructured porous materials proceedings of Symposium L on New Developments in Porous Silicon--Relation with Other Nanostructured Porous Materials of the 1996 E-MRS Spring Conference, Strasbourg, France, June 4-7, 1996
Material Type:
Livro
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New developments in porous silicon, relation with other nanostructured porous materials proceedings of Symposium L on New Developments in Porous Silicon--Relation with Other Nanostructured Porous Materials of the 1996 E-MRS Spring Conference, Strasbourg, France, June 4-7, 1996

Symposium L on New Developments in Porous Silicon: Relation with Other Nanostructured Porous Materials (1996 Strasbourg, France) Leigh T Canham; D Bellet (Daniel); European Materials Research Society Meeting Strasbourg, France) (1996

Amsterdam Elsevier New York c1997

Localização: EPELM - Esc. Politécnica-Bib Eng Elet., Mec. e Naval    (620.193 Sy68n )(Acessar)

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