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Refinado por: Biblioteca: EPELM - Esc. Politécnica-Bib Eng Elet., Mec. e Naval remover autor: Leblebici, Y remover
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Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits
Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits
Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits
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Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits

Leblebici Sung-Mo (Steve) Kang; Yusuf Leblebici; Sung-Mo (Steve) Sung-Mo (Steve) Kang

Springer US 1993

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

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CMOS digital integrated circuits analysis and design
CMOS digital integrated circuits analysis and design
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Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

CMOS digital integrated circuits analysis and design

Sung-Mo Kang 1945- Yusuf Leblebici

New York McGraw-Hill c1996

Localização: EPELM - Esc. Politécnica-Bib Eng Elet., Mec. e Naval    (621.3.049.774 K131c )(Acessar)

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