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IDeF-X ECLAIRs: A CMOS ASIC for the Readout of CdTe and CdZnTe Detectors for High Resolution Spectroscopy
IDeF-X ECLAIRs: A CMOS ASIC for the Readout of CdTe and CdZnTe Detectors for High Resolution Spectroscopy
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IDeF-X ECLAIRs: A CMOS ASIC for the Readout of CdTe and CdZnTe Detectors for High Resolution Spectroscopy

Gevin, O. ; Baron, P. ; Coppolani, X. ; Daly, F. ; Delagnes, E. ; Limousin, O. ; Lugiez, F. ; Meuris, A. ; Pinsard, F. ; Renaud, D.

IEEE transactions on nuclear science, 2009-08, Vol.56 (4), p.2351-2359 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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2
Bias dependence of FD transistor response to total dose irradiation
Bias dependence of FD transistor response to total dose irradiation
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Bias dependence of FD transistor response to total dose irradiation

Flament, O. ; Torres, A. ; Ferlet-Cavrois, V.

IEEE transactions on nuclear science, 2003-12, Vol.50 (6), p.2316-2321 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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3
Pseudo-Random Pulses for Calibration of Nuclear Instruments
Pseudo-Random Pulses for Calibration of Nuclear Instruments
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Pseudo-Random Pulses for Calibration of Nuclear Instruments

Holford, R. M.

IEEE (Inst. Elec. Electron. Eng.), Trans. Nucl. Sci. NS-16: No. 1, 386-91(Feb 1969), 1969, Vol.16 (1), p.386-391 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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