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Refinado por: assunto: Filmes Finos remover autor: Salvadori, M remover
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1
Estudo de compósito formado por nanopartículas de ouro em matriz polimérica como substratos para análise SERS.
Estudo de compósito formado por nanopartículas de ouro em matriz polimérica como substratos para análise SERS.
Material Type:
Dissertação de Mestrado 		Adicionar ao Meu Espaço

Estudo de compósito formado por nanopartículas de ouro em matriz polimérica como substratos para análise SERS.

Gushiken, Natália Kazumi

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Escola Politécnica 2019-05-07

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

2
Estudo da pureza de filmes depositados por "Vacuum Arc Plasma Deposition System"
Estudo da pureza de filmes depositados por "Vacuum Arc Plasma Deposition System"
Material Type:
Dissertação de Mestrado 		Adicionar ao Meu Espaço

Estudo da pureza de filmes depositados por "Vacuum Arc Plasma Deposition System"

Deilton Reis Martins Maria Cecília Barbosa da Silveira Salvadori

2002

Localização: EPBC - Esc. Politécnica-Bib Central    (FD-3122 ) e outros locais(Acessar)

3
Anisotropia de resistividade elétrica em filmes finos nanoestruturados.
Anisotropia de resistividade elétrica em filmes finos nanoestruturados.
Material Type:
Dissertação de Mestrado 		Adicionar ao Meu Espaço

Anisotropia de resistividade elétrica em filmes finos nanoestruturados.

Teixeira, Fernanda De Sá

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Escola Politécnica 2007-05-18

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

4
Scanning probe microscopy of vacuum-arc-deposited metallic and diamond-like carbon thin films
Scanning probe microscopy of vacuum-arc-deposited metallic and diamond-like carbon thin films
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Scanning probe microscopy of vacuum-arc-deposited metallic and diamond-like carbon thin films

M. C. Salvadori R. M. O Galvão; O. R Monteiro; I. G Brown

Thin Solid Films Amsterdam: Elsevier, 1998 v. 325, n. 1-2, p. 19-23, 18 julho 1998

Amsterdam 1998

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