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Optica Conference Papers
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Material Type: Artigo
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Compositional and Texture Analysis of Tantalum Thin Films by Energy Dispersive X-Ray AnalysisdeBen, H. S. ; Broyde, BarretApplied spectroscopy, 1973-03, Vol.27 (2), p.99-102 [Periódico revisado por pares]London, England: SAGE PublicationsTexto completo disponível |
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