Result Number | Material Type | Add to My Shelf Action | Record Details and Options |
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Material Type: Artigo
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Simultaneous Tensor Decomposition and Completion Using Factor PriorsYi-Lei Chen ; Chiou-Ting Hsu ; Liao, Hong-Yuan MarkIEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence, 2014-03, Vol.36 (3), p.577-591 [Periódico revisado por pares]Los Alamitos, CA: IEEETexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Visual Tracking: An Experimental SurveySmeulders, Arnold W. M. ; Chu, Dung M. ; Cucchiara, Rita ; Calderara, Simone ; Dehghan, Afshin ; Shah, MubarakIEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence, 2014-07, Vol.36 (7), p.1442-1468 [Periódico revisado por pares]Los Alamitos, CA: IEEETexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Selective Search for Object RecognitionUijlings, J. R. R. ; van de Sande, K. E. A. ; Gevers, T. ; Smeulders, A. W. M.International journal of computer vision, 2013-09, Vol.104 (2), p.154-171 [Periódico revisado por pares]Boston: Springer USTexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Guided Image FilteringHe, Kaiming ; Sun, Jian ; Tang, XiaoouIEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence, 2013-06, Vol.35 (6), p.1397-1409 [Periódico revisado por pares]Los Alamitos, CA: IEEETexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Automatic generation and detection of highly reliable fiducial markers under occlusionGarrido-Jurado, S. ; Muñoz-Salinas, R. ; Madrid-Cuevas, F.J. ; Marín-Jiménez, M.J.Pattern recognition, 2014-06, Vol.47 (6), p.2280-2292 [Periódico revisado por pares]Kidlington: Elsevier LtdTexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Fast Feature Pyramids for Object DetectionDollar, Piotr ; Appel, Ron ; Belongie, Serge ; Perona, PietroIEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence, 2014-08, Vol.36 (8), p.1532-1545 [Periódico revisado por pares]Los Alamitos, CA: IEEETexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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A novel quantum representation for log-polar imagesZhang, Yi ; Lu, Kai ; Gao, Yinghui ; Xu, KaiQuantum information processing, 2013-09, Vol.12 (9), p.3103-3126 [Periódico revisado por pares]New York, NY: SpringerTexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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USAC: A Universal Framework for Random Sample ConsensusRaguram, R. ; Chum, O. ; Pollefeys, M. ; Matas, J. ; Frahm, J.IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence, 2013-08, Vol.35 (8), p.2022-2038 [Periódico revisado por pares]Los Alamitos, CA: IEEETexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Visual Odometry: Part I: The First 30 Years and FundamentalsSCARAMUZZA, Davide ; FRAUNDORFER, FriedrichIEEE robotics & automation magazine, 2011-12, Vol.18 (4), p.80-92 [Periódico revisado por pares]New York, NY: Institute of Electrical and Electronics EngineersTexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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SHOT: Unique signatures of histograms for surface and texture descriptionSalti, Samuele ; Tombari, Federico ; Di Stefano, LuigiComputer vision and image understanding, 2014-08, Vol.125, p.251-264 [Periódico revisado por pares]Amsterdam: Elsevier IncTexto completo disponível |