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Electron and hole trapping in irradiated SIMOX, ZMR and BESOI buried oxides
Electron and hole trapping in irradiated SIMOX, ZMR and BESOI buried oxides
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Electron and hole trapping in irradiated SIMOX, ZMR and BESOI buried oxides

Stahlbush, R.E. ; Campisi, G.J. ; McKitterick, J.B. ; Maszara, W.P. ; Roitman, P. ; Brown, G.A.

IEEE transactions on nuclear science, 1992-12, Vol.39 (6), p.2086-2097 [Periódico revisado por pares]

PISCATAWAY: IEEE

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Paramagnetic defect centers in BESOI and SIMOX buried oxides
Paramagnetic defect centers in BESOI and SIMOX buried oxides
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Paramagnetic defect centers in BESOI and SIMOX buried oxides

Warren, W.L. ; Shaneyfelt, M.R. ; Schwank, J.R. ; Fleetwood, D.M. ; Winokur, P.S. ; Devine, R.A.B. ; Maszara, W.P. ; McKitterick, J.B.

IEEE Transactions on Nuclear Science (Institute of Electrical and Electronics Engineers); (United States), 1993-12, Vol.40 (6), p.1755-1764 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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