skip to main content
previous page 1 Resultados 2 3 4 5 next page
Result Number Material Type Add to My Shelf Action Record Details and Options
11
Time-dependent start-up and decay of secondary electron emission in dielectrics
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Time-dependent start-up and decay of secondary electron emission in dielectrics

Fitting, H.-J. ; Touzin, M.

Journal of applied physics, 2010-08, Vol.108 (3) [Periódico revisado por pares]

Texto completo disponível

12
Electron beam charging of insulators: A self-consistent flight-drift model
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Electron beam charging of insulators: A self-consistent flight-drift model

Touzin, M ; Goeuriot, D ; Guerret-Piécourt, C ; Juvé, D ; Tréheux, D ; Fitting, H.-J

Journal of applied physics, 2006-06, Vol.99 (11), p.114110-114110-14 [Periódico revisado por pares]

United States: American Institute of Physics

Texto completo disponível

13
Relationships between dielectric breakdown resistance and charge transport in alumina materials—Effects of the microstructure
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Relationships between dielectric breakdown resistance and charge transport in alumina materials—Effects of the microstructure

Touzin, M. ; Goeuriot, D. ; Fitting, H.-J. ; Guerret-Piécourt, C. ; Juvé, D. ; Tréheux, D.

Journal of the European Ceramic Society, 2007-01, Vol.27 (2), p.1193-1197 [Periódico revisado por pares]

Oxford: Elsevier Ltd

Texto completo disponível

14
Alumina based ceramics for high-voltage insulation
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Alumina based ceramics for high-voltage insulation

Touzin, M. ; Goeuriot, D. ; Guerret-Piécourt, C. ; Juvé, D. ; Fitting, H.-J.

Journal of the European Ceramic Society, 2010-03, Vol.30 (4), p.805-817 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

Texto completo disponível

15
Electron beam charging of insulators with surface layer and leakage currents
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Electron beam charging of insulators with surface layer and leakage currents

Cornet, N ; Goeuriot, D ; Guerret-Piécourt, C ; Juvé, D ; Tréheux, D ; Touzin, M ; Fitting, H.-J

Journal of applied physics, 2008-03, Vol.103 (6), p.064110-064110-13 [Periódico revisado por pares]

American Institute of Physics

Texto completo disponível

16
Imaging mechanism of carbon nanotubes on insulating and conductive substrates using a scanning electron microscope
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Imaging mechanism of carbon nanotubes on insulating and conductive substrates using a scanning electron microscope

Li, W. ; Zhou, Y. ; Fitting, H.-J. ; Bauhofer, W.

Journal of materials science, 2011-12, Vol.46 (23), p.7626-7632 [Periódico revisado por pares]

Boston: Springer US

Texto completo disponível

17
L’interniste face aux muscles respiratoires : quand faut-il explorer les muscles respiratoires ?
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

L’interniste face aux muscles respiratoires : quand faut-il explorer les muscles respiratoires ?

Fitting, J.-W.

Revue des maladies respiratoires, 2005-02, Vol.22 (1), p.62-67 [Periódico revisado por pares]

Paris: Elsevier Masson SAS

Texto completo disponível

18
Photoluminescence of Se-related oxygen deficient center in ion-implanted silica films
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Photoluminescence of Se-related oxygen deficient center in ion-implanted silica films

Zatsepin, A.F. ; Buntov, E.A. ; Pustovarov, V.A. ; Fitting, H.-J.

Journal of luminescence, 2013-11, Vol.143, p.498-502 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

Texto completo disponível

19
Sniff nasal inspiratory pressure: simple or too simple?
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

Sniff nasal inspiratory pressure: simple or too simple?

Fitting, J-W

The European respiratory journal, 2006-05, Vol.27 (5), p.881-883 [Periódico revisado por pares]

England

Texto completo disponível

20
XPS analysis and valence band structure of a low-dimensional SiO2/Si system after Si+ ion implantation
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

XPS analysis and valence band structure of a low-dimensional SiO2/Si system after Si+ ion implantation

Zatsepin, D. A. ; Mack, P. ; Wright, A. E. ; Schmidt, B. ; Fitting, H.-J.

Physica status solidi. A, Applications and materials science, 2011-07, Vol.208 (7), p.1658-1661 [Periódico revisado por pares]

Berlin: WILEY-VCH Verlag

Texto completo disponível

previous page 1 Resultados 2 3 4 5 next page

Personalize Seus Resultados

  1. Editar

Refine Search Results

Expandir Meus Resultados

  1.   

Refinar Meus Resultados

Tipo de Recurso 

  1. Artigos  (541)
  2. Anais de Congresso  (25)
  3. Book Chapters  (10)
  4. Conjunto de Dados  (9)
  5. Livros  (5)
  6. Resenhas  (5)
  7. Revistas  (5)
  8. Reports  (3)
  9. magazinearticle  (2)
  10. Mais opções open sub menu

Data de Publicação 

De até
  1. Antes de1973  (24)
  2. 1973Até1984  (43)
  3. 1985Até1996  (115)
  4. 1997Até2009  (268)
  5. Após 2009  (151)
  6. Mais opções open sub menu

Idioma 

  1. Inglês  (512)
  2. Japonês  (54)
  3. Francês  (44)
  4. Alemão  (33)
  5. Russo  (13)
  6. Português  (1)
  7. Mais opções open sub menu

Novas Pesquisas Sugeridas

Ignorar minha busca e procurar por tudo

Deste Autor:

  1. Fitting, J
  2. Janzen, D
  3. Cleland, C
  4. Devisscher, J
  5. Wahla, E

Buscando em bases de dados remotas. Favor aguardar.