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Using Domain-Specific Corpora for Improved Handling of Ambiguity in Requirements
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Using Domain-Specific Corpora for Improved Handling of Ambiguity in Requirements

Ezzini, Saad ; Abualhaija, Sallam ; Arora, Chetan ; Sabetzadeh, Mehrdad ; Briand, Lionel C.

2021 IEEE/ACM 43rd International Conference on Software Engineering (ICSE), 2021, p.1485-1497

IEEE

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2
Studying the Usage of Text-To-Text Transfer Transformer to Support Code-Related Tasks
Studying the Usage of Text-To-Text Transfer Transformer to Support Code-Related Tasks
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Studying the Usage of Text-To-Text Transfer Transformer to Support Code-Related Tasks

Mastropaolo, Antonio ; Scalabrino, Simone ; Cooper, Nathan ; Nader Palacio, David ; Poshyvanyk, Denys ; Oliveto, Rocco ; Bavota, Gabriele

2021 IEEE/ACM 43rd International Conference on Software Engineering (ICSE), 2021, p.336-347

IEEE

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3
Protocols and Architectures for Wireless Sensor Networks
Protocols and Architectures for Wireless Sensor Networks
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Protocols and Architectures for Wireless Sensor Networks

Karl, Holger ; Willig, Andreas

Wiley 2005

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4
Early Life Cycle Software Defect Prediction. Why? How?
Early Life Cycle Software Defect Prediction. Why? How?
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Early Life Cycle Software Defect Prediction. Why? How?

N.C., Shrikanth ; Majumder, Suvodeep ; Menzies, Tim

2021 IEEE/ACM 43rd International Conference on Software Engineering (ICSE), 2021, p.448-459

IEEE

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5
Testing autonomous cars for feature interaction failures using many-objective search
Testing autonomous cars for feature interaction failures using many-objective search
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Testing autonomous cars for feature interaction failures using many-objective search

Abdessalem, Raja Ben ; Panichella, Annibale ; Nejati, Shiva ; Briand, Lionel C. ; Stifter, Thomas

2018 33rd IEEE/ACM International Conference on Automated Software Engineering (ASE), 2018, p.143-154

New York, NY, USA: ACM

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6
Improving Fault Localization by Integrating Value and Predicate Based Causal Inference Techniques
Improving Fault Localization by Integrating Value and Predicate Based Causal Inference Techniques
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Improving Fault Localization by Integrating Value and Predicate Based Causal Inference Techniques

Kucuk, Yigit ; Henderson, Tim A. D. ; Podgurski, Andy

2021 IEEE/ACM 43rd International Conference on Software Engineering (ICSE), 2021, p.649-660

IEEE

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7
Online Defect Prediction for Imbalanced Data
Online Defect Prediction for Imbalanced Data
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Online Defect Prediction for Imbalanced Data

Ming Tan ; Lin Tan ; Dara, Sashank ; Mayeux, Caleb

2015 IEEE/ACM 37th IEEE International Conference on Software Engineering, 2015, Vol.2, p.99-108

IEEE

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8
Predicting defects using network analysis on dependency graphs
Predicting defects using network analysis on dependency graphs
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Predicting defects using network analysis on dependency graphs

Zimmermann, Thomas ; Nagappan, Nachiappan

2008 ACM/IEEE 30th International Conference on Software Engineering, 2008, Vol.2008 (24), p.531-540

New York, NY, USA: ACM

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9
A search-based approach for accurate identification of log message formats
A search-based approach for accurate identification of log message formats
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

A search-based approach for accurate identification of log message formats

Messaoudi, Salma ; Panichella, Annibale ; Bianculli, Domenico ; Briand, Lionel ; Sasnauskas, Raimondas

2018 IEEE/ACM 26th International Conference on Program Comprehension (ICPC), 2018, p.167-177

New York, NY, USA: ACM

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10
The Shifting Sands of Motivation: Revisiting What Drives Contributors in Open Source
The Shifting Sands of Motivation: Revisiting What Drives Contributors in Open Source
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

The Shifting Sands of Motivation: Revisiting What Drives Contributors in Open Source

Gerosa, Marco ; Wiese, Igor ; Trinkenreich, Bianca ; Link, Georg ; Robles, Gregorio ; Treude, Christoph ; Steinmacher, Igor ; Sarma, Anita

2021 IEEE/ACM 43rd International Conference on Software Engineering (ICSE), 2021, p.1046-1058

IEEE

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