Result Number | Material Type | Add to My Shelf Action | Record Details and Options |
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Material Type: Dissertação de Mestrado
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Projeto e construção de sistema de aquisição e processamento de dados para espectroscopia por transformada rápida de FourierEncinas Junior, Walter SotoBiblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Física de São Carlos 1995-04-03Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos. |
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Material Type: Dissertação de Mestrado
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Desenvolvimento de técnica de medição e obtenção de dados experimentais envolvidos no ciclo de trabalho dos compressores herméticos alternativosReal, Marcelo AlexandreBiblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Escola de Engenharia de São Carlos 2005-12-20Acesso online |
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Material Type: Dissertação de Mestrado
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Sistema de aquisição de dados utilizando telemetria: aplicação em secador solar de produtos agrícolasSilveira, Luciano Roberto DaBiblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Escola Superior de Agricultura Luiz de Queiroz 2012-01-18Acesso online |
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Material Type: Artigo
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EUDAQ—a data acquisition software framework for common beam telescopesAhlburg, P. ; Arfaoui, S. ; Arling, J.-H. ; Augustin, H. ; Barney, D. ; Benoit, M. ; Bisanz, T. ; Corrin, E. ; Cussans, D. ; Dannheim, D. ; Dreyling-Eschweiler, J. ; Eichhorn, T. ; Fiergolski, A. ; Gregor, I.-M. ; Grosse-Knetter, J. ; Haas, D. ; Huth, L. ; Irles, A. ; Jansen, H. ; Janssen, J. ; Keil, M. ; Keller, J.S. ; Kiehn, M. ; Kim, H.J. ; Kroll, J. ; Krüger, K. ; Kulis, S. ; Kvasnicka, J. ; Lange, J. ; Liu, Y. ; Lütticke, F. ; Marinas, C. ; Martinengo, P. ; Nurnberg, A. ; Paschen, B. ; Perrey, H. ; Peschke, R. ; Pitzl, D. ; Pohl, D.-L. ; Quadt, A. ; Quast, T. ; Reidt, F. ; Rossi, E. ; Rubinsky, I. ; Rummler, A. ; Schreeck, H. ; Schütze, P. ; Schwenker, B. ; Spannagel, S. ; Stanitzki, M. ; Stolzenberg, U. ; Suehara, T. ; Suljic, M. ; Troska, G. ; Varga-Kofarago, M. ; Weingarten, J. ; Wieduwilt, P.Journal of instrumentation, 2020-01, Vol.15 (1), p.P01038-P01038 [Periódico revisado por pares]Bristol: IOP PublishingTexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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A Novel Scalable Digital Data Acquisition System for Industrial Condition MonitoringToscani, Andrea ; Immovilli, Fabio ; Pinardi, Daniel ; Cattani, LucaIEEE transactions on industrial electronics (1982), 2024-07, Vol.71 (7), p.7975-7985 [Periódico revisado por pares]New York: IEEETexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Implementation of a Low-Cost Data Acquisition System on an E-Scooter for Micromobility ResearchPérez-Zuriaga, Ana María ; Llopis-Castelló, David ; Just-Martínez, Víctor ; Fonseca-Cabrera, Alejandra Sofía ; Alonso-Troyano, Carlos ; García, AlfredoSensors (Basel, Switzerland), 2022-10, Vol.22 (21), p.8215 [Periódico revisado por pares]Basel: MDPI AGTexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Design and Research of MCU applied in UAV Data Acquisition SystemZhang, Hua ; Wang, Jiachen ; Sun, Yingying ; Wang, WeiJournal of physics. Conference series, 2021-03, Vol.1802 (4), p.42017 [Periódico revisado por pares]Bristol: IOP PublishingTexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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A Device Performance Data Acquisition System Based on Data Fusion MethodHuang, Jianhua ; Liu, XinLinJournal of physics. Conference series, 2021-07, Vol.1982 (1), p.12196 [Periódico revisado por pares]Bristol: IOP PublishingTexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Portable Data Acquisition System for Nano and Ultra-Micro Scale Electrochemical SensorsMurphy, Aidan ; Seymour, Ian ; Rohan, James ; O'Riordan, Alan ; O'Connell, IvanIEEE sensors journal, 2021-02, Vol.21 (3), p.3210-3215 [Periódico revisado por pares]New York: IEEETexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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A Low-Cost Multi-Sensor Data Acquisition System for Fault Detection in Fused Deposition ModellingKumar, Satish ; Kolekar, Tushar ; Patil, Shruti ; Bongale, Arunkumar ; Kotecha, Ketan ; Zaguia, Atef ; Prakash, ChanderSensors (Basel, Switzerland), 2022-01, Vol.22 (2), p.517 [Periódico revisado por pares]Switzerland: MDPI AGTexto completo disponível |