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1	Material Type: Artigo		A Deep Learning Decision Support Tool to Improve Risk Stratification and Reduce Unnecessary Biopsies in BI-RADS 4 Mammograms Ezeana, Chika F ; He, Tiancheng ; Patel, Tejal A ; Kaklamani, Virginia ; Elmi, Maryam ; Brigmon, Erika ; Otto, Pamela M ; Kist, Kenneth A ; Speck, Heather ; Wang, Lin ; Ensor, Joe ; Shih, Ya-Chen T ; Kim, Bumyang ; Pan, I-Wen ; Cohen, Adam L ; Kelley, Kristen ; Spak, David ; Yang, Wei T ; Chang, Jenny C ; Wong, Stephen T C Radiology. Artificial intelligence, 2023-11, Vol.5 (6), p.e220259-e220259 [Periódico revisado por pares] United States Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
2	Material Type: Artigo		CALCULATION OF WALL-BOUNDED COMPLEX FLOWS AND FREE SHEAR FLOWS SHIH, T.-H. ; ZHU, J. ; LUMLEY, JOHN L. International journal for numerical methods in fluids, 1996-12, Vol.23 (11), p.1133-1144 [Periódico revisado por pares] Sussex: John Wiley & Sons, Ltd Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
3	Material Type: Artigo		Exemplar-Based Video Inpainting Without Ghost Shadow Artifacts by Maintaining Temporal Continuity Shih, T.K. ; Tang, N.C. ; Jenq-Neng Hwang IEEE transactions on circuits and systems for video technology, 2009-03, Vol.19 (3), p.347-360 [Periódico revisado por pares] New York, NY: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
4	Material Type: Artigo		Data mining modeling on the environmental impact of airport deicing activities Fan, Huiyuan ; Tarun, Prashant K. ; Shih, Dachuan T. ; Kim, Seoung Bum ; Chen, Victoria C.P. ; Rosenberger, Jay M. ; Bergman, Dan Expert systems with applications, 2011-11, Vol.38 (12), p.14899-14906 [Periódico revisado por pares] Elsevier Ltd Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
5	Material Type: Artigo		An Adaptive Memoryless Protocol for RFID Tag Collision Arbitration Myung, J. ; Wonjun Lee ; Shih, T.K. IEEE transactions on multimedia, 2006-10, Vol.8 (5), p.1096-1101 [Periódico revisado por pares] New York, NY: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
6	Material Type: Artigo		Turbulence model assessment for shock wave/turbulent boundary-layer interaction in transonic and supersonic flows Liou, William W. ; Huang, George ; Shih, Tsan-Hsing Computers & fluids, 2000-03, Vol.29 (3), p.275-299 [Periódico revisado por pares] Oxford: Elsevier Ltd Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
7	Material Type: Artigo		Video Inpainting on Digitized Vintage Films via Maintaining Spatiotemporal Continuity Tang, N. C. ; Chiou-Ting Hsu ; Chih-Wen Su ; Shih, T. K. ; Liao, H-Y M. IEEE transactions on multimedia, 2011-08, Vol.13 (4), p.602-614 [Periódico revisado por pares] New York, NY: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
8	Material Type: Artigo		Remarks on turbulent constitutive relations Shih, T.-H. ; Lumley, J.L. Mathematical and computer modelling, 1993-07, Vol.18 (2), p.9-16 [Periódico revisado por pares] Oxford: Elsevier Ltd Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
9	Material Type: Artigo		Ranking Metrics and Search Guidance for Learning Object Repository Yen, N Y ; Shih, T K ; Chao, L R ; Qun Jin IEEE transactions on learning technologies, 2010-07, Vol.3 (3), p.250-264 [Periódico revisado por pares] Piscataway: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
10	Material Type: Artigo		An Implementation of the CORDRA Architecture Enhanced for Systematic Reuse of Learning Objects Lin, F.H. ; Shih, T.K. ; Won Kim IEEE transactions on knowledge and data engineering, 2009-06, Vol.21 (6), p.925-938 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por

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