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Refinado por: Nome da Publicação: Applied Physics Letters remover Biblioteca: IME - Inst. Matemática e Estatística remover
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Determination of thickness and optical constants of amorphous silicon films from transmittance data
Determination of thickness and optical constants of amorphous silicon films from transmittance data
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Determination of thickness and optical constants of amorphous silicon films from transmittance data

Marcelo Mulato Ivan Emílio Chambouleyron; Ernesto Julian Goldberg Birgin; José Mário Martínez

Applied Physics Letters Melville, NY v. 77, n. 14, p. 2133-2135, 2000

Melville, NY 2000

Localização: IME - Inst. Matemática e Estatística    (PROD-1123589 )(Acessar)

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Determination of thickness and optical constants of amorphous silicon films from transmittance data
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Marcelo Mulato Ivan Emílio Chambouleyron; Ernesto Julian Goldberg Birgin; José Mário Martínez

Applied Physics Letters Melville, NY v. 77, n. 14, p. 2133-2135, 2000

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Deste Autor:

  1. Chambouleyron, I
  2. Birgin, E
  3. Martínez, J
  4. Mulato, M

Neste Assunto:

  1. Física
  2. Óptica

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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