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1
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Dissertação de Mestrado
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Investigação da consistência termodinâmica do conceito de temperaturas negativas

Inagaki, João Hiroyuki De Melo

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Física de São Carlos 2023-08-23

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

2
Ferrite-based room temperature negative temperature coefficient printed thermistors
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Artigo
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Ferrite-based room temperature negative temperature coefficient printed thermistors

McGhee, J.R ; Sagu, J.S ; Southee, D.J ; Evans, P.S.A ; Wijayantha, K.G.U

Electronics letters, 2020-11, Vol.56 (24), p.1322-1324 [Periódico revisado por pares]

The Institution of Engineering and Technology

Texto completo disponível

3
BTI Analysis Tool-Modeling of NBTI DC, AC Stress and Recovery Time Kinetics, Nitrogen Impact, and EOL Estimation
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Artigo
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BTI Analysis Tool-Modeling of NBTI DC, AC Stress and Recovery Time Kinetics, Nitrogen Impact, and EOL Estimation

Parihar, Narendra ; Goel, Nilesh ; Mukhopadhyay, Subhadeep ; Mahapatra, Souvik

IEEE transactions on electron devices, 2018-02, Vol.65 (2), p.392-403 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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4
Ultrafast Measurements and Physical Modeling of NBTI Stress and Recovery in RMG FinFETs Under Diverse DC-AC Experimental Conditions
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Artigo
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Ultrafast Measurements and Physical Modeling of NBTI Stress and Recovery in RMG FinFETs Under Diverse DC-AC Experimental Conditions

Parihar, Narendra ; Sharma, Uma ; Southwick, Richard G. ; Wang, Miaomiao ; Stathis, James H. ; Mahapatra, Souvik

IEEE transactions on electron devices, 2018-01, Vol.65 (1), p.23-30 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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5
Inkjet Printing of Perovskites for Breaking Performance–Temperature Tradeoffs in Fabric‐Based Thermistors
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Artigo
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Inkjet Printing of Perovskites for Breaking Performance–Temperature Tradeoffs in Fabric‐Based Thermistors

Li, Shujie ; Kosek, Alex ; Jahangir, Mohammad Naim ; Malhotra, Rajiv ; Chang, Chih‐Hung

Advanced functional materials, 2021-01, Vol.31 (1), p.2006273-n/a [Periódico revisado por pares]

Hoboken: Wiley Subscription Services, Inc

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6
A Simulation Study of NBTI Impact on 14-nm Node FinFET Technology for Logic Applications: Device Degradation to Circuit-Level Interaction
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A Simulation Study of NBTI Impact on 14-nm Node FinFET Technology for Logic Applications: Device Degradation to Circuit-Level Interaction

Mishra, Subrat ; Amrouch, Hussam ; Joe, Jerin ; Dabhi, Chetan K. ; Thakor, Karansingh ; Chauhan, Yogesh S. ; Henkel, Jorg ; Mahapatra, Souvik

IEEE transactions on electron devices, 2019-01, Vol.66 (1), p.271-278 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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7
Reliable Time Exponents for Long Term Prediction of Negative Bias Temperature Instability by Extrapolation
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Artigo
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Reliable Time Exponents for Long Term Prediction of Negative Bias Temperature Instability by Extrapolation

Rui Gao ; Manut, Azrif B. ; Zhigang Ji ; Jigang Ma ; Meng Duan ; Jian Fu Zhang ; Franco, Jacopo ; Hatta, Sharifah Wan Muhamad ; Wei Dong Zhang ; Kaczer, Ben ; Vigar, David ; Linten, Dimitri ; Groeseneken, Guido

IEEE transactions on electron devices, 2017-04, Vol.64 (4), p.1467-1473 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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8
Recovery Behavior of Interface Traps After Negative Bias Temperature Instability Stress in p-FinFETs Featuring Fast Trap Characterization Technique
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Recovery Behavior of Interface Traps After Negative Bias Temperature Instability Stress in p-FinFETs Featuring Fast Trap Characterization Technique

Zhou, Longda ; Zhang, Qingzhu ; Yang, Hong ; Ji, Zhigang ; Wang, Guilei ; Liu, Qianqian ; Tang, Bo ; Gao, Rui ; Simoen, Eddy ; Yin, Huaxiang ; Zhao, Chao ; Du, Anyan ; Luo, Jun ; Wang, Wenwu

IEEE transactions on electron devices, 2021-09, Vol.68 (9), p.4251-4258 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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9
Origin and reactivity of hot-spots in end-gas autoignition with effects of negative temperature coefficients: Relevance to pressure wave developments
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Origin and reactivity of hot-spots in end-gas autoignition with effects of negative temperature coefficients: Relevance to pressure wave developments

Terashima, Hiroshi ; Matsugi, Akira ; Koshi, Mitsuo

Combustion and flame, 2017-10, Vol.184, p.324-334 [Periódico revisado por pares]

New York: Elsevier Inc

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10
New Insight Into Negative Bias Temperature Instability Degradation During Self-Heating in Nanoscale Bulk FinFETs
Material Type:
Artigo
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New Insight Into Negative Bias Temperature Instability Degradation During Self-Heating in Nanoscale Bulk FinFETs

Son, Dokyun ; Hong, Kyushik ; Shim, Hyewon ; Pae, Sangwoo ; Shin, Hyungcheol

IEEE electron device letters, 2019-09, Vol.40 (9), p.1354-1357 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Autor/Criador 

  1. Brito, F  (1)
  2. Inagaki, J  (1)
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Data de Publicação 

De até
  1. Antes de1960  (91)
  2. 1960Até1975  (468)
  3. 1976Até1991  (949)
  4. 1992Até2008  (3.405)
  5. Após 2008  (7.861)
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Idioma 

  1. Inglês  (12.342)
  2. Japonês  (144)
  3. Chinês  (78)
  4. Russo  (61)
  5. Alemão  (35)
  6. Português  (25)
  7. Espanhol  (10)
  8. Francês  (7)
  9. Polonês  (7)
  10. Italiano  (7)
  11. Ucraniano  (6)
  12. Coreano  (5)
  13. Holandês  (4)
  14. Norueguês  (3)
  15. Tcheco  (2)
  16. Dinamarquês  (2)
  17. Lituano  (1)
  18. Húngaro  (1)
  19. Serbian  (1)
  20. Romeno  (1)
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