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Refinado por: Nome da Publicação: Microelectronics And Reliability remover data de publicação: 1997Até2013 remover
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A survey of the thermal stability of an active heat sink
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Artigo
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A survey of the thermal stability of an active heat sink

De Baetselier, Erwin ; Goedertier, Wim ; De Mey, Gilbert

Microelectronics and reliability, 1997-12, Vol.37 (12), p.1805-1812 [Periódico revisado por pares]

Oxford: Elsevier Ltd

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