Design of ePixM, a fully-depleted monolithic CMOS active pixel sensor for soft X-ray experiments at LCLS-II

Rota, L. ; Tamma, C. ; Segal, J.D. ; Caragiulo, P. ; Kenney, C. ; Dragone, A.

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Reflectivity and PDE of VUV4 Hamamatsu SiPMs in liquid xenon

Nakarmi, P. ; Soma, A.K. ; Retière, F. ; Kharusi, S. Al ; Anton, G. ; Badhrees, I. ; Barbeau, P.S. ; Beck, D. ; Belov, V. ; Bhatta, T. ; Blatchford, J. ; Breur, P.A. ; Brodsky, J.P. ; Brown, E. ; Mamahit, S. Byrne ; Caden, E. ; Cao, G.F. ; Chana, B. ; Charlebois, S.A. ; Cleveland, B. ; Coon, M. ; Craycraft, A. ; Darroch, L. ; Croix, A. De St ; Mesrobian-Kabakian, A. Der ; Vacri, M.L. Di ; Dragone, A. ; Echevers, J. ; Edaltafar, F. ; Elbeltagi, M. ; Fairbank, D. ; Fairbank, W. ; Farine, J. ; Ferrara, S. ; Fontaine, R. ; Fucarino, A. ; Gautam, P. ; Giacomini, G. ; Goeldi, D. ; Gratta, G. ; Hansen, E.V. ; Heffner, M. ; Hoppe, E.W. ; Hößl, J. ; House, A. ; Jamil, A. ; Jiang, X.S. ; Karelin, A. ; Kaufman, L.J. ; Koffas, T. ; Krücken, R. ; Kuchenkov, A. ; Lan, Y. ; Larson, A. ; Leach, K.G. ; Lenardo, B.G. ; Leonard, D.S. ; Li, G. ; Licciardi, C. ; Lv, P. ; Massacret, N. ; Medina-Peregrina, M. ; Mong, B. ; Murray, K. ; Natzke, C.R. ; Newby, R.J. ; Ning, Z. ; Nusair, O. ; Orrell, J.L. ; Ortega, G.S. ; Overman, C.T. ; Piepke, A. ; Radeka, V. ; Raguzin, E. ; Richman, M. ; Runge, J. ; Saldanha, R. ; Sangiorgio, S. ; Stiegler, T. ; Tarka, M. ; Todd, J. ; Totev, T.I. ; Tsang, R. ; Vachon, F. ; Vivo-Vilches, C. ; Vuilleumier, J.-L. ; Wager, T. ; Walent, M. ; Wang, Q. ; Ward, M. ; Watkins, J. ; Weber, M. ; Wu, S.X. ; Wu, W.H. ; Wu, X. ; Xia, Q. ; Yang, H. ; Zeldovich, O. ; Zhao, J. ; Ziegler, T.

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Characterization of an Ionization Readout Tile for nEXO

Jewell, M. ; Schubert, A. ; Cen, W.R. ; Dalmasson, J. ; DeVoe, R. ; Gratta, G. ; Jamil, A. ; Li, G. ; Odian, A. ; Patel, M. ; Qiu, D. ; Albert, J.B. ; Anton, G. ; Badhrees, I. ; Beck, D. ; Belov, V. ; Bourque, F. ; Brodsky, J. P. ; Burenkov, A. ; Cao, G.F. ; Cao, L. ; Chambers, C. ; Charlebois, S.A. ; Coon, M. ; Craycraft, A. ; Cree, W. ; Côté, M. ; Daniels, T. ; Daugherty, S.J. ; Daughhetee, J. ; Delaquis, S. ; Dilling, J. ; Ding, Y.Y. ; Dolinski, M.J. ; Dragone, A. ; Fairbank, W. ; Feyzbakhsh, S. ; Fontaine, R. ; Fudenberg, D. ; Hansen, E.V. ; Harris, D. ; Hasan, M. ; Heffner, M. ; House, A. ; Ito, Y. ; Iverson, A. ; Jiang, X.S. ; Johnston, S. ; Karelin, A. ; Kaufman, L.J. ; Koffas, T. ; Kravitz, S. ; Krücken, R. ; Kuchenkov, A. ; Lan, Y. ; Li, S. ; Li, Z. ; Licciardi, C. ; Lin, Y.H. ; MacLellan, R. ; Michel, T. ; Moore, D. ; Newby, R.J. ; Ning, Z. ; Njoya, O. ; Nolet, F. ; Odgers, K. ; Oriunno, M. ; Ostrovskiy, I. ; Overman, C.T. ; Ortega, G. S. ; Parent, S. ; Piepke, A. ; Pratte, J.-F. ; Radeka, V. ; Raguzin, E. ; Rao, T. ; Retiere, F. ; Rossignol, T. ; Rowson, P.C. ; Saldanha, R. ; Sangiorgio, S. ; Schmidt, S. ; Schneider, J. ; Sinclair, D. ; Skarpaas, K. ; Stekhanov, V. ; Stiegler, T. ; Tarka, M. ; Tsang, T. ; Visser, G. ; Wrede, G. ; Wu, S.X. ; Wu, W.H. ; Yang, L. ; Yen, Y.-R. ; Zeldovich, O. ; Zhao, J. ; Zhou, Y. ; Ziegler, T.

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Charge collection studies in irradiated HV-CMOS particle detectors

Affolder, A. ; Andelković, M. ; Arndt, K. ; Bates, R. ; Blue, A. ; Bortoletto, D. ; Buttar, C. ; Caragiulo, P. ; Cindro, V. ; Das, D. ; Dopke, J. ; Dragone, A. ; Ehrler, F. ; Fadeyev, V. ; Galloway, Z. ; Gorišek, A. ; Grabas, H. ; Gregor, I.M. ; Grenier, P. ; Grillo, A. ; Hommels, L.B.A. ; Huffman, T. ; John, J. ; Kanisauskas, K. ; Kenney, C. ; Kramberger, G. ; Liang, Z. ; Mandić, I. ; Maneuski, D. ; McMahon, S. ; Mikuž, M. ; Muenstermann, D. ; Nickerson, R. ; Perić, I. ; Phillips, P. ; Plackett, R. ; Rubbo, F. ; Segal, J. ; Seiden, A. ; Shipsey, I. ; Song, W. ; Stanitzki, M. ; Su, D. ; Tamma, C. ; Turchetta, R. ; Vigani, L. ; Volk, J. ; Wang, R. ; Warren, M. ; Wilson, F. ; Worm, S. ; Xiu, Q. ; Zavrtanik, M. ; Zhang, J. ; Zhu, H.

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Highly-parallelized simulation of a pixelated LArTPC on a GPU

Adamov, G. ; Adams, D. ; Aimard, B. ; Alton, A. ; Aurisano, A. ; Bambah, B. ; Basharina-Freshville, A. ; Behera, B. ; Bellettini, G. ; Benjamin, D. ; Betancourt, M. ; Bezerra, A.T. ; Chalifour, M. ; Chen, H. ; Chen-Wishart, Z. ; Cicero, V. ; Cui, Y. ; Cussans, D. ; De, K. ; Di Falco, S. ; Englezos, P. ; Flanagan, W. ; Friedland, A. ; Gallas, A. ; Gardiner, S. ; Gastler, D. ; Girerd, C. ; Granados, E. ; Groetschla, F.T. ; Guffanti, D. ; Haiston, J. ; Hayes, C. ; Holvey, T. ; Hostert, M. ; Howell, R. ; Hristova, I. ; Iles, G. ; Jackson, C.M. ; Jung, C.K. ; Kakorin, I. ; Kashur, L. ; Kearns, E. ; Kozhukalov, V. ; Kubu, M. ; Kumar, J. ; Lantwin, O. ; Laycock, P. ; Liu, Y. ; Machado, P. ; Madigan, P. ; Marchan, M. ; Marfatia, D. ; Marshall, C.M. ; Marshall, J. ; McFarland, K.S. ; McNab, A. ; Mena, O. ; Mills, J. ; Miranda, O.G. ; Mokhov, N. ; Mouster, G. ; Mu, W. ; Muraz, J. ; Nelson, M. ; Newcomer, M. ; Niner, E. ; Onishchuk, Y. ; Patrick, C. ; Peeters, S.J.M. ; Pershey, D. ; Poppi, F. ; Raut, S. ; Razakamiandra, R.F. ; Rincón, E.V. ; Santoro, D. ; Scarpelli, A. ; Schefke, T. ; Sinev, G. ; Singh Chauhan, S. ; Sokolov, S. ; Sousa, A. ; Spitz, J. ; Spooner, N.J.C. ; Stancari, M. ; Suter, L. ; Suvorov, Y. ; Tarpara, E. ; Thea, A. ; Todorović, N. ; Trzaska, W.H. ; Tsai, Y. ; Tsang, K.V. ; Tull, C. ; Tyler, J. ; Usher, T. ; Vaughan, N. ; Whilhelmi, J. ; Wilkinson, C. ; Zalesak, J. ; Zwaska, R.

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Forward instrumentation for ILC detectors

Abramowicz, H ; Abusleme, A ; Afanaciev, K ; Aguilar, J ; Ambalathankandy, P ; Bambade, P ; Bergholz, M ; Bozovic-Jelisavcic, I ; Castro, E ; Chelkov, G ; Coca, C ; Daniluk, W ; Dragone, A ; Dumitru, L ; Elsener, K ; Emeliantchik, I ; Fiutowski, T ; Gostkin, M ; Grah, C ; Grzelak, G ; Haller, G ; Henschel, H ; Ignatenko, A ; Idzik, M ; Ito, K ; Jovin, T ; Kielar, E ; Kotula, J ; Krumstein, Z ; Kulis, S ; Lange, W ; Lohmann, W ; Levy, A ; Moszczynski, A ; Nauenberg, U ; Novgorodova, O ; Ohlerich, M ; Orlandea, M ; Oleinik, G ; Oliwa, K ; Olshevski, A ; Pandurovic, M ; Pawlik, B ; Przyborowski, D ; Sato, Y ; Sadeh, I ; Sailer, A ; Schmidt, R ; Schumm, B ; Schuwalow, S ; Smiljanic, I ; Swientek, K ; Takubo, Y ; Teodorescu, E ; Wierba, W ; Yamamoto, H ; Zawiejski, L ; Zhang, J

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Simulation of charge readout with segmented tiles in nEXO

Li, Z. ; Moore, D.C. ; Wen, L.J. ; Odian, A. ; Kharusi, S. Al ; Anton, G. ; Arnquist, I.J. ; Bhatta, T. ; Brown, E. ; Brunner, T. ; Cao, G.F. ; Chambers, C. ; Charlebois, S.A. ; Cleveland, B. ; Coon, M. ; Craycraft, A. ; Dalmasson, J. ; Daniels, T. ; Darroch, L. ; Daugherty, S.J. ; Mesrobian-Kabakian, A. Der ; DeVoe, R. ; Vacri, M.L. Di ; Dilling, J. ; Ding, Y.Y. ; Elbeltagi, M. ; Fairbank, D. ; Fairbank, W. ; Farine, J. ; Ferrara, S. ; Fontaine, R. ; Gautam, P. ; Giacomini, G. ; Goeldi, D. ; Hansen, E.V. ; Heffner, M. ; Hößl, J. ; Hughes, M. ; Iverson, A. ; Jamil, A. ; Jewell, M.J. ; Jiang, X.S. ; Karelin, A. ; Kaufman, L.J. ; Kodroff, D. ; Koffas, T. ; Krücken, R. ; Lan, Y. ; Larson, A. ; Leach, K.G. ; Lenardo, B.G. ; Leonard, D.S. ; Li, G. ; Li, S. ; Licciardi, C. ; Lv, P. ; MacLellan, R. ; Michel, T. ; Mong, B. ; Nakarmi, P. ; Natzke, C.R. ; Newby, R.J. ; Ning, Z. ; Nolet, F. ; Oriunno, M. ; Orrell, J.L. ; Ortega, G.S. ; Ostrovskiy, I. ; Raguzin, E. ; Retière, F. ; Rossignol, T. ; Rowson, P.C. ; Runge, J. ; Saldanha, R. ; VIII, K. Skarpaas ; Soma, A.K. ; St-Hilaire, G. ; Stiegler, T. ; Sun, X.L. ; Tarka, M. ; Todd, J. ; Tolba, T. ; Totev, T.I. ; Tsang, T. ; Vachon, F. ; Veeraraghavan, V. ; Viel, S. ; Visser, G. ; Vivo-Vilches, C. ; Vuilleumier, J.-L. ; Wagenpfeil, M. ; Walent, M. ; Ward, M. ; Watkins, J. ; Weber, M. ; Wu, S.X. ; Wu, X. ; Yang, H. ; Yen, Y.-R. ; Zhao, J.

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Study of silicon photomultiplier performance in external electric fields

Tolba, T. ; Lv, P. ; Wen, L.J. ; Odian, A. ; Vachon, F. ; Arnquist, I.J. ; Belov, V. ; Bhatta, T. ; Bourque, F. ; Brodsky, J. P. ; Brunner, T. ; Cen, W.R. ; Chambers, C. ; Charlebois, S.A. ; Cleveland, B. ; Coon, M. ; Craycraft, A. ; Cree, W. ; Dalmasson, J. ; Daniels, T. ; Daughhetee, J. ; Mesrobian-Kabakian, A. Der ; DeVoe, R. ; Ding, Y.Y. ; Dolinski, M.J. ; Dragone, A. ; Echevers, J. ; Fairbank, D. ; Fairbank, W. ; Farine, J. ; Feyzbakhsh, S. ; Fierlinger, P. ; Fontaine, R. ; Fudenberg, D. ; Giacomini, G. ; Gornea, R. ; Gratta, G. ; Hansen, E.V. ; Harris, D. ; Hoppe, E. W. ; Hößl, J. ; House, A. ; Hufschmidt, P. ; Ito, Y. ; Iverson, A. ; Jamil, A. ; Jessiman, C. ; Karelin, A. ; Kaufman, L.J. ; Kravitz, S. ; Krücken, R. ; Kuchenkov, A. ; Kumar, K.S. ; Lan, Y. ; Li, S. ; Li, Z. ; Licciardi, C. ; Lin, Y.H. ; MacLellan, R. ; Michel, T. ; Moe, M. ; Mong, B. ; Murray, K. ; Ning, Z. ; Njoya, O. ; Nolet, F. ; Nusair, O. ; Odgers, K. ; Oriunno, M. ; Orrell, J.L. ; Ostrovskiy, I. ; Parent, S. ; Piepke, A. ; Pocar, A. ; Pratte, J.-F. ; Qiu, D. ; Radeka, V. ; Raguzin, E. ; Rescia, S. ; Robinson, A. ; Roy, N. ; Saldanha, R. ; Sangiorgio, S. ; Sinclair, D. ; VIII, K. Skarpaas ; Soma, A.K. ; St-Hilaire, G. ; Stekhanov, V. ; Stiegler, T. ; Tarka, M. ; Todd, J. ; Tsang, R. ; Tsang, T. ; Veenstra, B. ; Visser, G. ; Wang, Q. ; Watkins, J. ; Wu, S.X. ; Yen, Y.-R. ; Zhou, Y.

Bristol: IOP Publishing

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Reflectivity and PDE of VUV4 Hamamatsu SiPMs in liquid xenon

Nakarmi, P. ; Ostrovskiy, I. ; Soma, A. K. ; Retière, F. ; Kharusi, S. Al ; Badhrees, I. ; Barbeau, P. S. ; Belov, V. ; Brodsky, J. P. ; Brown, E. ; Brunner, T. ; Mamahit, S. Byrne ; Caden, E. ; Cao, G. F. ; Chambers, C. ; Chana, B. ; Chiu, M. ; Coon, M. ; Dalmasson, J. ; Daniels, T. ; Darroch, L. ; Croix, A. De St ; Mesrobian-Kabakian, A. Der ; DeVoe, R. ; Vacri, M. L. Di ; Dilling, J. ; Doria, L. ; Echevers, J. ; Elbeltagi, M. ; Fabris, L. ; Fairbank, D. ; Farine, J. ; Ferrara, S. ; Feyzbakhsh, S. ; Gautam, P. ; Giacomini, G. ; Goeldi, D. ; Gornea, R. ; Gratta, G. ; Hansen, E. V. ; Heffner, M. ; Hoppe, E. W. ; Hößl, J. ; Jamil, A. ; Jewell, M. J. ; Kaufman, L. J. ; Kuchenkov, A. ; Kumar, K. S. ; Larson, A. ; Leach, K. G. ; Leonard, D. S. ; Li, G. ; Li, S. ; Lv, P. ; MacLellan, R. ; Medina-Peregrina, M. ; Michel, T. ; Mong, B. ; Moore, D. C. ; Natzke, C. R. ; Newby, R. J. ; Ning, Z. ; Njoya, O. ; Nolet, F. ; Odgers, K. ; Oriunno, M. ; Pocar, A. ; Pratte, J. -F. ; Raguzin, E. ; Rescia, S. ; Richman, M. ; Robinson, A. ; Rossignol, T. ; Roy, N. ; Runge, J. ; Sangiorgio, S. ; St-Hilaire, G. ; Stekhanov, V. ; Stiegler, T. ; Sun, X. L. ; Todd, J. ; Totev, T. I. ; Tsang, R. ; Veeraraghavan, V. ; Viel, S. ; Visser, G. ; Vivo-Vilches, C. ; Vuilleumier, J. -L. ; Wang, Q. ; Ward, M. ; Weber, M. ; Wen, L. J. ; Wichoski, U. ; Wu, S. X. ; Xia, Q. ; Yang, H. ; Yang, L. ; Zeldovich, O. ; Zhou, Y. ; Ziegler, T.

United States: Institute of Physics (IOP)

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Radiation hardness studies of AMS HV-CMOS 350 nm prototype chip HVStripV1

Kanisauskas, K. ; Affolder, A. ; Arndt, K. ; Bates, R. ; Benoit, M. ; Bello, F. Di ; Blue, A. ; Bortoletto, D. ; Buckland, M. ; Buttar, C. ; Caragiulo, P. ; Das, D. ; Dopke, J. ; Dragone, A. ; Ehrler, F. ; Fadeyev, V. ; Galloway, Z. ; Grabas, H. ; Gregor, I.M. ; Grenier, P. ; Grillo, A. ; Hiti, B. ; Hoeferkamp, M. ; Hommels, L.B.A. ; Huffman, B.T. ; John, J. ; Kenney, C. ; Kramberger, J. ; Liang, Z. ; Mandic, I. ; Maneuski, D. ; Martinez-Mckinney, F. ; MacMahon, S. ; Meng, L. ; Mikuž, M. ; Muenstermann, D. ; Nickerson, R. ; Peric, I. ; Phillips, P. ; Plackett, R. ; Rubbo, F. ; Segal, J. ; Seidel, S. ; Seiden, A. ; Shipsey, I. ; Song, W. ; Staniztki, M. ; Su, D. ; Tamma, C. ; Turchetta, R. ; Vigani, L. ; Volk, J. ; Wang, R. ; Warren, M. ; Wilson, F. ; Worm, S. ; Xiu, Q. ; Zhang, J. ; Zhu, H.

United States: Institute of Physics (IOP)

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