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1
On-Hinde-Demétrio regression models for overdispersed count data
On-Hinde-Demétrio regression models for overdispersed count data
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

On-Hinde-Demétrio regression models for overdispersed count data

Célestin C. Kokonendji Clarice Garcia Borges Demétrio; Sílvio Sandoval Zocchi

Statistical Methodology Amsterdan v. 4, p. 277-291, 2007

Amsterdam 2007

Acesso online

2
Influence diagnostics in a multivariate normal regression model with general parameterization
Influence diagnostics in a multivariate normal regression model with general parameterization
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Influence diagnostics in a multivariate normal regression model with general parameterization

Alexandre Galvão Patriota Artur J Lemonte; Mário de Castro

Statistical Methodology Amsterdan : Elsevier v. 7, n. 6, p. 644-654, nov. 2010

Amsterdam 2010

Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação    (PROD-1964981 )(Acessar)

3
A heteroscedastic structural errors-in-variables model with equation error
A heteroscedastic structural errors-in-variables model with equation error
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

A heteroscedastic structural errors-in-variables model with equation error

A. G. Patriota Heleno Bolfarine; Mário de Castro

Statistical Methodology Amsterdan : Elsevier v. 6, n. 4, p. 408-423, 2009

Amsterdam 2009

Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação    (PROD-1762435 )(Acessar)

4
The destructive negative binomial cure rate model with a latent activation scheme
The destructive negative binomial cure rate model with a latent activation scheme
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

The destructive negative binomial cure rate model with a latent activation scheme

Vicente Garibay Cancho Dipankar Bandyopadhyay; Francisco Louzada; Bao Yiqi

Statistical Methodology Amsterdan : Elsevier v. 13, p. 48-68, jul 2013

Amsterdam 2013

Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação    (PROD 2391793 )(Acessar)

5
A heteroscedastic structural errors-in-variables model with equation error
A heteroscedastic structural errors-in-variables model with equation error
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

A heteroscedastic structural errors-in-variables model with equation error

A. G. Patriota Heleno Bolfarine; Mário de Castro

Statistical Methodology Amsterdan : Elsevier v. 6, n. 4, p. 408-423, 2009

Amsterdam 2009

Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação    (PROD-1762435 )(Acessar)

6
Influence diagnostics in a multivariate normal regression model with general parameterization
Influence diagnostics in a multivariate normal regression model with general parameterization
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Influence diagnostics in a multivariate normal regression model with general parameterization

Alexandre Galvão Patriota Artur J Lemonte; Mário de Castro

Statistical Methodology Amsterdan : Elsevier v. 7, n. 6, p. 644-654, nov. 2010

Amsterdam 2010

Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação    (PROD-1964981 )(Acessar)

7
On-Hinde-Demétrio regression models for overdispersed count data
On-Hinde-Demétrio regression models for overdispersed count data
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

On-Hinde-Demétrio regression models for overdispersed count data

Célestin C. Kokonendji Clarice Garcia Borges Demétrio; Sílvio Sandoval Zocchi

Statistical Methodology Amsterdan v. 4, p. 277-291, 2007

Amsterdam 2007

Acesso online

8
The zero-inflated Conway–Maxwell–Poisson distribution Bayesian inference, regression modeling and influence diagnostic
The zero-inflated Conway–Maxwell–Poisson distribution Bayesian inference, regression modeling and influence diagnostic
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

The zero-inflated Conway–Maxwell–Poisson distribution Bayesian inference, regression modeling and influence diagnostic

Gladys D. C Barriga (Gladys Dorotea Cacsire Barriga) Francisco Louzada

Statistical Methodology Amsterdam : Elsevier v. 21, p. 23-34, out 2014

Amsterdam 2014

Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação    (PROD 2668417 )(Acessar)

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