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The destructive negative binomial cure rate model with a latent activation scheme
The destructive negative binomial cure rate model with a latent activation scheme
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The destructive negative binomial cure rate model with a latent activation scheme

Vicente Garibay Cancho Dipankar Bandyopadhyay; Francisco Louzada; Bao Yiqi

Statistical Methodology Amsterdan : Elsevier v. 13, p. 48-68, jul 2013

Amsterdam 2013

Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação    (PROD 2391793 )(Acessar)

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Deste Autor:

  1. Louzada, F
  2. Yiqi, B
  3. Cancho, V
  4. Bandyopadhyay, D

Neste Assunto:

  1. Regressão Linear
  2. Estatística Aplicada

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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