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When Should A Process Be Art, Not Science?
When Should A Process Be Art, Not Science?
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When Should A Process Be Art, Not Science?

Hall, Joseph M ; Johnson, M Eric

Harvard business review, 2009-03, Vol.87 (3), p.58

Boston: Harvard Business Review

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2
Pioneers, Drivers, Integrators, and Guardians
Pioneers, Drivers, Integrators, and Guardians
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Pioneers, Drivers, Integrators, and Guardians

Vickberg, Suzanne M Johnson ; Christfort, Kim

Harvard business review, 2017-03, p.1

Boston: Harvard Business Review

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3
Mesure de débit dans les conduites partiellement remplies
Mesure de débit dans les conduites partiellement remplies
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Mesure de débit dans les conduites partiellement remplies

LOPEZ, C ; JOHNSON, M ; PEARCE, S

L' Eau, l'industrie, les nuisances, 1997 (204), p.73-75

Paris: Johanet

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4
The art of case management
The art of case management
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The art of case management

Johnson, M

The Case manager, 1999-01, Vol.10 (1), p.70-71

United States

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5
Magnetoelectronic memories last and last
Magnetoelectronic memories last and last
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Magnetoelectronic memories last and last

Johnson, M.

IEEE spectrum, 2000-02, Vol.37 (2), p.33-40

New York: IEEE

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6
A brief chronology of medical device security
A brief chronology of medical device security
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A brief chronology of medical device security

Burns, A ; Johnson, M ; Honeyman, Peter

Communications of the ACM, 2016-10, Vol.59 (10), p.66-72

New York: ACM

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7
The all-metal spin transistor
The all-metal spin transistor
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The all-metal spin transistor

Johnson, M.

IEEE spectrum, 1994-05, Vol.31 (5), p.47-51

New York: IEEE

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8
Weld repair of wearing surfaces in centrifugal fans
Weld repair of wearing surfaces in centrifugal fans
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Weld repair of wearing surfaces in centrifugal fans

JOHNSON, M. H

Power Engineering, 2002-07, Vol.106 (7), p.33-36

Tulsa, OK: PennWell

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9
Europe prepares for WRC-95: mobile satellite service issues
Europe prepares for WRC-95: mobile satellite service issues
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Europe prepares for WRC-95: mobile satellite service issues

Johnson, M.

IEEE communications magazine, 1995-09, Vol.33 (9), p.124-127

IEEE

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10
Calibration of a Novel Microstructural Damage Model for Wire Bonds
Calibration of a Novel Microstructural Damage Model for Wire Bonds
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Calibration of a Novel Microstructural Damage Model for Wire Bonds

Yang, L. ; Agyakwa, P. A. ; Johnson, C. M.

IEEE transactions on device and materials reliability, 2014-12, Vol.14 (4), p.989-994 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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  1. Antes de1963  (47)
  2. 1963Até1978  (61)
  3. 1979Até1993  (115)
  4. 1994Até2009  (787)
  5. Após 2009  (202)
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  2. Francês  (25)
  3. Japonês  (9)
  4. Alemão  (1)
  5. Sueco  (1)
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