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Fine-Grained Image Analysis With Deep Learning: A Survey
Fine-Grained Image Analysis With Deep Learning: A Survey
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Fine-Grained Image Analysis With Deep Learning: A Survey

Wei, Xiu-Shen ; Song, Yi-Zhe ; Aodha, Oisin Mac ; Wu, Jianxin ; Peng, Yuxin ; Tang, Jinhui ; Yang, Jian ; Belongie, Serge

IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence, 2022-12, Vol.44 (12), p.8927-8948 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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2
Neural Image Compression for Gigapixel Histopathology Image Analysis
Neural Image Compression for Gigapixel Histopathology Image Analysis
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Neural Image Compression for Gigapixel Histopathology Image Analysis

Tellez, David ; Litjens, Geert ; van der Laak, Jeroen ; Ciompi, Francesco

IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence, 2021-02, Vol.43 (2), p.567-578 [Periódico revisado por pares]

United States: IEEE

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3
Geographic Image Retrieval Using Local Invariant Features
Geographic Image Retrieval Using Local Invariant Features
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Geographic Image Retrieval Using Local Invariant Features

Yi Yang ; Newsam, S.

IEEE transactions on geoscience and remote sensing, 2013-02, Vol.51 (2), p.818-832 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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4
Deep Learning in Microscopy Image Analysis: A Survey
Deep Learning in Microscopy Image Analysis: A Survey
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Deep Learning in Microscopy Image Analysis: A Survey

Xing, Fuyong ; Xie, Yuanpu ; Su, Hai ; Liu, Fujun ; Yang, Lin

IEEE transaction on neural networks and learning systems, 2018-10, Vol.29 (10), p.4550-4568

United States: IEEE

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5
End-to-End Adversarial Retinal Image Synthesis
End-to-End Adversarial Retinal Image Synthesis
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End-to-End Adversarial Retinal Image Synthesis

Costa, Pedro ; Galdran, Adrian ; Meyer, Maria Ines ; Niemeijer, Meindert ; Abramoff, Michael ; Mendonca, Ana Maria ; Campilho, Aurelio

IEEE transactions on medical imaging, 2018-03, Vol.37 (3), p.781-791

United States: IEEE

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6
Memorizing Structure-Texture Correspondence for Image Anomaly Detection
Memorizing Structure-Texture Correspondence for Image Anomaly Detection
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Memorizing Structure-Texture Correspondence for Image Anomaly Detection

Zhou, Kang ; Li, Jing ; Xiao, Yuting ; Yang, Jianlong ; Cheng, Jun ; Liu, Wen ; Luo, Weixin ; Liu, Jiang ; Gao, Shenghua

IEEE transaction on neural networks and learning systems, 2022-06, Vol.33 (6), p.2335-2349

United States: IEEE

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Learning Spectral-Spatial-Temporal Features via a Recurrent Convolutional Neural Network for Change Detection in Multispectral Imagery
Learning Spectral-Spatial-Temporal Features via a Recurrent Convolutional Neural Network for Change Detection in Multispectral Imagery
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Learning Spectral-Spatial-Temporal Features via a Recurrent Convolutional Neural Network for Change Detection in Multispectral Imagery

Mou, Lichao ; Bruzzone, Lorenzo ; Zhu, Xiao Xiang

IEEE transactions on geoscience and remote sensing, 2019-02, Vol.57 (2), p.924-935 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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8
Deep Learning Applications in Medical Image Analysis
Deep Learning Applications in Medical Image Analysis
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Deep Learning Applications in Medical Image Analysis

Ker, Justin ; Wang, Lipo ; Rao, Jai ; Lim, Tchoyoson

IEEE access, 2018-01, Vol.6, p.9375-9389 [Periódico revisado por pares]

Piscataway: IEEE

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9
Convolutional Neural Networks for Medical Image Analysis: Full Training or Fine Tuning?
Convolutional Neural Networks for Medical Image Analysis: Full Training or Fine Tuning?
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Convolutional Neural Networks for Medical Image Analysis: Full Training or Fine Tuning?

Tajbakhsh, Nima ; Shin, Jae Y. ; Gurudu, Suryakanth R. ; Hurst, R. Todd ; Kendall, Christopher B. ; Gotway, Michael B. ; Jianming Liang

IEEE transactions on medical imaging, 2016-05, Vol.35 (5), p.1299-1312

United States: IEEE

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10
Dynamic Texture Recognition Using Local Binary Patterns with an Application to Facial Expressions
Dynamic Texture Recognition Using Local Binary Patterns with an Application to Facial Expressions
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Dynamic Texture Recognition Using Local Binary Patterns with an Application to Facial Expressions

Guoying Zhao ; Pietikainen, M.

IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence, 2007-06, Vol.29 (6), p.915-928 [Periódico revisado por pares]

Los Alamitos, CA: IEEE

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