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Advances in Signal Processing for Nondestructive Evaluation of Materials
Advances in Signal Processing for Nondestructive Evaluation of Materials
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Livro
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Advances in Signal Processing for Nondestructive Evaluation of Materials

X. P. V. Maldague

Springer Netherlands 1994

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

2
Material Type:
Livro
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Programa e resumo de comunicações

Colóquio da sociedade brasileira de microscopia eletrônica, 11., Caxambú-MG 1-3 set. 1987

Caxambú SBME;CNPQ;FINEP s.d

Localização: EEL - Engenharia de Materiais    (537.533.35 C719 )(Acessar)

3
Ultrasonic Methods of Non-destructive Testing
Material Type:
Livro
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Ultrasonic Methods of Non-destructive Testing

Jack BLITZ Geoff SIMPSON

London Chapman & Hall c1996

Localização: EEL - Engenharia de Materiais    (B649u )(Acessar)

4
Material Type:
Livro
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Tesla BS 340

Universal scanning electron microscope

Purkynova-Czechoslovakia Tesla Brno s.d

Localização: EEL - Engenharia de Materiais    (537.533.35 U58t )(Acessar)

5
Material Type:
Livro
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Frontiers of electron microscopy in materials science

Amsterdam 1987

Localização: EEL - Engenharia de Materiais    (537.533.35 B811f )(Acessar)

6
Material Type:
Livro
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Simpósio Brasileiro de Microscopia Eletrônica e Técnicas Associadas na Pesquisa de Materiais, São Paulo, 24-26 Out. 1988

s.l. Sociedade Brasileira de Microscopia Eletrônica 1988

Localização: EEL - Engenharia de Materiais    (537.533.35 S612 )(Acessar)

7
Fundamentos da microscopia
Material Type:
Livro
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Fundamentos da microscopia

Luiz Henrique Monteiro LEAL

Rio de Janeiro EdUERJ 2000

Localização: EEL - Engenharia de Materiais    (543.456 L435f ex.2 )(Acessar)

8
Broadband Dielectric Spectroscopy
Broadband Dielectric Spectroscopy
Material Type:
Livro
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Broadband Dielectric Spectroscopy

Friedrich Schönhals, Andreas Kremer Andreas Schönhals

Springer Berlin Heidelberg 2003

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

9
Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis
Material Type:
Livro
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Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis

Joseph Newbury, Dale E. Joy, David C. Goldstein Patrick Echlin; David C Joy; Eric Lifshin; Charles E Lyman; J.R Michael; Dale E Newbury; Linda Sawyer; Linda C Sawyer

Springer US 2003

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

10
Material Type:
Artigo de Congresso
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Caracterização estrutural de nanocubos de Sr'Ti IND. 1-x''Fe IND. x''O IND. 3' sintetizados pelo método hidrotermal assistido por microondas

Luís Fernando da Silva Mário Lúcio Moreira; Waldir Avansi Junior; Valmor Roberto Mastelaro; Simpósio em Ciência e Engenharia de Materiais - SICEM (14. 2011 São Carlos)

Livro de resumos São Carlos : EESC - IQSC - IFSC / USP, 2011

São Carlos EESC - IQSC - IFSC / USP 2011

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD019295 ) e outros locais(Acessar)

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